中古 PHILIPS / FEI Titan #9315607 を販売中
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ID: 9315607
System
Electron sources: FEG
Acceleration voltage range: 80 kV to 300 kV
With preset alignment for 80 kV and 300 kV
Scanning transmission electron microscopy mode
Convergent beam and selected area electron diffraction modes
Conventional TEM modes
Point resolution in TEM mode: 0.20 nm at 300 kV
Information limit: <0.1 nm
STEM Resolution: 0.136 nm at 300 kV
Super-twin objective lens pole piece
FISCHIONE High angle annular dark field STEM detector for Z-contrast imaging
BF and DF STEM detector
GATAN Tridiem energy filter:
Electron energy loss spectroscopy
Energy-filtered TEM
Filter energy spread: 0.8 eV
Entrance aperture 5 mm
EFTEM field of view: 20 μm (diagonal, select TEM models)
Maximum diffraction angle: 120 mRad (select TEM models)
Non-isochromaticity: < 1.25 eV
Distortion: < 1.75 %
Chromaticity: < 1.5 μm/eV
Detector resolution: 2048 x 2048 pixels (UltraScan™ sensor with HCR™ technology)
EFTEM readout speed: 4 frames/sec (EFTEM, 512 x 512)
Viewing readout speed: > 10 frames/sec (Cinema mode, 512 x 256)
Spectroscopy
Filter energy resolution: 0.25 eV
Attainable system resolution: 0.6 eV (0.55 eV TEM with cold FEG, 0.25 eV GIF)
Detector channels per readout: 2,048
Detector dynamic range: 0 - 60,000 counts/ch
Detector noise: < 6 counts/ch
Maximum readout speed: > 30 spectra/sec
2K x 2K UltraScan camera
No probe / Objective corrector
EDX Ultimo max TLE silicon drift detector (100 mm²):
Fast mapping: 200,000 Counts per second
Energy peak resolution:
Separate carbon
Nitrogen
Oxygen peaks with 50 eV FWHM.
PHILIPS/FEI Titanは世界的に有名な走査型電子顕微鏡（SEM）で、電界放出と温度制御の両方の走査型電子分光に優れています。高度な性能と複数のモードを備えたFEI Titanは、マイクロエレクトロニクス、メタログラフィー、ライフサイエンスなどの分野の幅広い材料のイメージングと分析に最適です。PHILIPS Titanの設計には、メモリを内蔵したフィールドエミッションガン（FEG）と、チタン製スパッタ熱制御フィールドエミッションガン（TCFEG）の2つのガンモードがあります。これらのガンモードの両方を組み合わせることで、特別なイメージングモードを作成することができます。FEGは、電子ビーム強度と輝度制御装置を内蔵しており、ユーザーは最適なコントラストを得るために電子ビーム強度と電圧を調整することができます。また、Titanはデュアルビームモードで動作する機能を提供し、2種類の試験片を同時にプローブすることができます。AutoFocus、 Auto Comparison、 FEI 3D Scan Interface （PSI）などのソフトウェアパッケージが含まれています。PHILIPS/FEI Titanは、1 nm〜500 μ mの範囲で調整可能なステップアンドセトルスキャンを可能にする正確なスキャンシステムを備えています。このユニットは粗いスキャンの必要性を排除します、従ってユーザーはステップ間の短い休止と迅速かつ正確にスキャンすることができます。また、ユーザーはスキャン中に異なる倍率で標本を観察することができます。FEI Titanは、さらなるイメージング深度のために200mmのコラム長を提供します。PHILIPS Titanは、高画質と柔軟性で優れた解像度を提供するように設計されています。その検出器機械は、フォトメトリック、電気、磁気モードのためのいくつかのオプションが含まれています。また、定量分析用に特別に設計されたサンプルホルダーも含まれています。技術的な機能に加えて、Titanは、プリセット分析ソリューション、標本マッピング、リモートジョブコントロール、拡張画像操作などのさまざまな革新的な機能を備えた直感的なユーザーインターフェイスを提供します。このSEMは、今日の最高の要件を満たすように設計されており、優れた画像とパフォーマンスを提供します。PHILIPS/FEI Titanは、あらゆるイメージングおよび分析アプリケーション向けの強力なテクノロジーです。
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