中古 PHILIPS / FEI Titan G2 60-300 #293793950 を販売中
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ID: 293793950
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field Emission Gun (FEG)
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
Electron Energy Loss Spectrometer (EELS)
High Angle Annular Dark Field (HAADF)
Energy Dispersive X-Ray (EDX) spectrometer
EDAX Genesis 4000 Solid state Si (Li) detector
Sample holder
GATAN 652 Double-tilt heating stage: Up to 1000°C
Diameter grids: 3 mm
Accelerating voltages: 60, 80, 200 and 300 keV
Thickness: 20-120 nm
Resolution: 0.1-0.2 eV
Energy resolution:
100-150 MeV at 200 kV
150-200 MeV at 300 kV.
FEI (Field Emission Instruments) PHILIPS/FEI Titan G2 60-300スキャン電子顕微鏡は最先端の分析ツールであり、幅広い科学的用途において高度なイメージングおよび分析機能を提供します。高解像度イメージングと元素解析、表面特性評価を組み合わせた高機能な装置で、材料科学、ナノテクノロジー、生物学などの分野での研究に多用途なツールとなっています。最大加速電圧300kVのFEI Titan G2 60-300は、ナノスケールレベルで超高分解能イメージングを実現します。その場の放出電子源は、優れた明るさと安定性を備えた非常に集中した電子ビームを提供し、優れた画像品質とサブナノメートルの解像度を可能にします。この高解像度は、サンプル中の微細な表面の詳細、構造的特徴、およびナノスケール粒子を観察するために不可欠です。イメージング機能に加えて、PHILIPS Titan G2 60-300には、元素分析とマッピングを行うためのさまざまな分析検出器が装備されています。エネルギー分散型X線分光法(EDS)および波長分散型X線分光法(WDS)検出器により、サンプル内に存在する元素をトレース・レベルまで同定および定量化できます。この元素解析機能は、サンプル内の元素の化学組成と分布を理解するために重要です。Titan G2 60-300のもう一つの重要な特徴は、革新的な収差補正技術を含む高度な電子光学システムです。この技術は、画像の歪みを補正し、全体的な画質を向上させ、より鮮明でより詳細な画像を作成するのに役立ちます。PHILIPS/FEI Titan G2 60-300の収差補正イメージング機能により、複雑なサンプルや困難な材料の高解像度イメージングに特に適しています。この顕微鏡には、さまざまなサンプルタイプやサイズに対応するさまざまなサンプルハンドリング機能が装備されています。電動ステージはサンプルの正確な位置決めと操作を可能にし、専門のサンプルホルダーとチャンバーは薄膜、ナノ粒子、生物標本などの多様なサンプル構成の分析を可能にします。さらに、FEI Titan G2 60-300は、イメージングパラメータの管理、データの取得、結果の処理を行うための高度な制御およびデータ分析ソフトウェアを提供します。直感的なユーザーインターフェイスと洗練されたソフトウェアツールにより、顕微鏡の操作が合理化され、初心者でも経験豊富なユーザーでもアクセスできます。リアルタイムイメージングおよびライブデータ可視化機能により、データ取得および分析プロセスの効率が向上します。全体として、PHILIPS Titan G2 60-300スキャン電子顕微鏡は、幅広い科学分野において優れたイメージングおよび分析機能を備えた最先端の機器です。高解像度イメージング、元素解析機能、収差補正技術、高度なソフトウェア機能により、学術および産業における研究開発のための汎用性の高いツールとなっています。Titan G2 60-300は、材料の構造を調べたり、化学組成を分析したり、ナノスケール現象を研究したりするかどうかにかかわらず、顕微鏡レベルで世界を探索し理解するために必要なツールを研究者に提供します。
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