中古 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293777416 を販売中

PHILIPS/FEI Titan 80-300 Scanning Electron Microscope （SEM）は、さまざまなサンプルの高解像度画像を生成するように設計された最新の高性能な装置です。広い作業距離、優れたコントラストと解像度の機能を備えたこの機器は、要求の厳しい検査と研究アプリケーションの両方に最適です。光学分野では、FEI Titan 80-300 SEMにはインレンズ・カラムが装備されており、可能な限り最高の解像度で細部の高精細画像を確実に定義できます。このコラムは、電流密度が非常に高く、すべての倍率にわたって解像度が向上しています。また、電子光学系は非常に広い作業距離を可能にし、より大きなオブジェクトを操作して詳細な画像を作成することができます。サンプル操作機能の面では、PHILIPS Titan 80-300は、正確な位置決めのために自動化されたX-Yステージを採用しています。このシステムのおかげで、ユーザーは高精度でサンプルの領域を選択し、評価し、イメージすることができます。さらに、XYステージはサンプルホルダー機構も備えており、試料深度マッピングと組み合わせて素早いサンプル交換が可能です。Titan 80-300には、SEMのイメージング機能を強化するBSEおよびSE検出器がさらに装備されています。SE検出器は、試料の地形に関する詳細な情報を提供する良質な画像を生成し、BSE検出器は試料に存在する異なる位相を識別するために使用できる組成マップを生成します。さらに、このSEMは、高エネルギーX線画像を必要とするアプリケーションのための詳細な分析を提供する後方散乱電子検出器を利用しています。PHILIPS/FEI Titan 80-300は、効率的な操作のための洗練されたユーザーフレンドリーな機能を提供します。例えば、オペレータは、FEIがSEM用に開発した最新のアップグレードおよびソフトウェアアプリケーションにソフトウェアから直接アクセスすることができます。さらに、FEI Titan 80-300 SEMは、PHILIPS TEMPLEXソフトウェアなどのさまざまな設計およびイメージングプログラムと互換性があるように設計されています。安定性の面では、PHILIPS Titan 80-300は、優れた画質と安定性を長期にわたって維持することができ、研究および教育目的に最適です。Titan 80-300は、熱および機械的補償を内蔵しているため、長期間にわたって試験片を分析するアプリケーションに非常に適しています。結論として、PHILIPS/FEI Titan 80-300 Scanning Electron Microscopeは、さまざまな研究および臨床用途に多用途性と精度を提供する信頼性の高い高性能な機器です。このSEMは、広い作業距離、優れた解像度、自動XYステージ、およびインレンズ・コラムを備えており、要求の厳しい検査アプリケーションのためのサンプルの高精細画像を取得するのに最適なツールです。