中古 PHILIPS / FEI TF30ST #9378650 を販売中

PHILIPS/FEI TF30STは、高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）で、最先端の設計により優れた解像度と画質を提供します。それは元素分析と10-9トーラーの真空レベルのための高度なエネルギー分散X線 （EDX）分光法を提供しています。FEI TF30STにはフィールドエミッションガン（FEG）があり、より高いコントラスト、高速スキャン、より良い画質で可能な限り最高の解像度を保証します。さらに、高解像度のEverhart-Thornley検出器を搭載しており、高速かつ高品質の画像処理と分光結果を得ることができます。SEMには、大規模な研究のための大面積のEverhart-Thornley検出器も装備されています。PHILIPS TF30STはカスタマイズ可能なSEMであり、ユーザーはシステムを特定のSEMニーズに合わせて調整することができます。加速電圧、ガンドリフト電圧、スキャン速度、サンプルバイアスなど、いくつかの調整可能なSEMパラメータが付属しています。顕微鏡はまた高い生産性を提供する電動ステージおよび自動サンプルチェンジャーが装備されています。この顕微鏡は独自の3Dトモモードを備えており、複数のスキャン結果を組み合わせてサンプルの3次元画像を生成することができます。この3D再構成技術は、高解像度画像へのユニークな洞察を提供し、材料科学、ナノテクノロジー、生物学の研究に使用することができます。SEMには、背面散乱検出器、クライオホルダー、加熱段、電子ビームリソグラフィー、X線高解像度カメラなど、さまざまなアクセサリーが装備されています。これらの特徴は、研究者にサンプルの詳細な特性評価を提供します。要するに、TF30STは強力な走査型電子顕微鏡であり、様々な分析ツールや画像解像度をユーザーに提供し、材料科学、ナノテクノロジー、生物学などの幅広い分野に最適です。そのカスタマイズ可能なパラメータ、3D断層撮影モード、およびその他の機能の品揃えにより、サンプルの詳細な特性評価に最適なツールです。