中古 PHILIPS / FEI TF30 #293830548 を販売中

PHILIPS/FEI TF30は、二次散乱電子イメージングを利用して、照射された試料表面の高解像度画像を生成する走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、最大5mmの作業距離と~ 20mmまでの視野を持つサブナノメートル解像度の画像を提供することができます。この汎用性の高い機器は、故障解析、材料特性評価、半導体計測、生体イメージングなどの用途に使用するために設計されています。FEI TF30は、最先端のインレンズスキャン技術を採用し、最大の被写界深度で最適化されたSEM画像を実現しています。これにより、点灯したサンプルの明瞭な表示が可能になります。また、光と電子の両方の画像を解析できるサンプル解析システム（SAS）や、材料横力顕微鏡（LFM）、 X線要素マッピング（XRF）、分光イメージング（SI）などの高度な解析技術も搭載しています。また、PHILIPS TF30は、加速電圧、検出器の応答性、ビームドリフト補償など、SEMの動作パラメータを自動的に調整および再調整するオプションのAutotune機能も提供します。これにより、ユーザーはこれらの設定を手動で調整することなく、サンプル分析アプリケーションをすばやく切り替えることができます。TF30の非常に強力なモーターユニットは、高精度で再現性の高い最も複雑なサンプルでも分析することができます。このマシンは、振動誘発不安定性を低減するための高度な振動減衰機能と、最も困難なSEMアプリケーションでも最高レベルの信号対ノイズを確保するための高速二次電子検出器を備えています。PHILIPS/FEI TF30には、電動ステージ、cryoおよび液体窒素ステージ、ワイヤレス制御、および画像ステッチやアニメーションレンダリングなどのさまざまな汎用アプリケーションを含む包括的なアクセサリが装備されています。FEI TF30は、さまざまなアプリケーションに適した高度なSEMツールで、優れた解像度と再現性、および最大限の効率を実現する自動チューニングシステムを提供します。