中古 PHILIPS / FEI TF30 #293821941 を販売中

PHILIPS/FEI TF30は、標本の高解像度画像を生成するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このシステムは、ナノ検出能力と超高解像度イメージングを提供することができます。試料の構造の詳細は、試料を電子ビームで照らすことによって明らかになります。FEI TF30には、標本と相互作用するために非常に集中した一次電子ビームを生成するフィールド放射銃（FEG）が装備されています。一次電子と複数の後方散乱電子の相互作用は、サンプルの3次元画像を生成します。PHILIPS TF30は、イメージコントラストと解像度が最大30nmの定量化機能を備えています。このシステムは、元素ラベリングのための二次電子、後方散乱電子、およびX線放射を生成することができる。また、量的非破壊解析のための逆散乱電子Csi検出器を生成することもできます。TF30はユーザーフレンドリーに設計されており、自動サンプルステージが付属しています。これにより、サンプルの広い領域の自動スキャンイメージングが可能になります。FEIイメージングソフトウェアは、高解像度画像のライブキャプチャ、負と正のスティグマティック画像の分析、画像分析を可能にします。この試料は、真空モードで動作しながらサンプルを汚染から保護する環境制御チャンバーに含まれています。高倍率機能を備えたPHILIPS/FEI TF30は、最大100,000Xsのオブジェクトを拡大することができます。FEI TF30は、試験片の高解像度画像を生成する信頼性の高いSEMをお探しの方に最適なオプションです。その定量化機能とイメージング機能のスイートの範囲は、科学的および商業的なアプリケーションに最適です。この強力なシステムは、最も強力なアプリケーションやプロジェクトのいくつかに適しています。