中古 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #9183333 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai TF20 Scanning Electron Microscope （SEM）は、さまざまなイメージングおよび分析用途向けに設計されたハイエンドの実験装置です。この装置は、様々な倍率でサンプル表面の高分解能画像を生成し、マイクロスケールおよびナノスケールのサンプルの地形、化学、およびその他の特徴を分析することができます。FEI Tecnai TF20は、デジタルカメラ、X線検出器、気体検出器、電子ビームイメージング、電子分光などの最新の画像技術を特長としています。これにより、最大20万倍以上の倍率で画像を取得できます。さらに、このシステムにはBSE （Back-Scattered Electron）信号が含まれており、サンプルの元素分布に関する情報を提供します。PHILIPS TECNAI TF-20には、カラムとワークステーションという2つの主要コンポーネントがあります。このコラムには、電源、電子源、絞り、偏光、STEM （Scanning Transmission Electron Microscope）などの電子光学部品が含まれています。ワークステーションには、イメージング、解析、およびユーザーインターフェースコンポーネントが含まれています。この統合により、SEM動作パラメータの迅速な画像取得と制御が可能になります。TECNAI TF-20は、1ナノメートルまでのサンプルを高解像度で解析することができ、様々な研究目的に最適です。ナノマテリアルの開発、バイオミネラリゼーション研究、冶金分析などの用途に最適です。この装置は、品質管理のために半導体業界で頻繁に使用されています。PHILIPS/FEI TECNAI TF-20は、真空を必要とせずに高解像度のイメージングとサンプル分析を提供する高真空チャンバーを備えています。これにより、イメージングプロセスの精度と信頼性が向上します。分析機能を向上させるために、XYZサンプルホルダマシンとビデオカメラを備えた自動ステージを備えています。FEI TECNAI TF-20は、幅広い研究および産業用途向けに設計された汎用性の高い機器です。このツールは強力なイメージングおよび分析ツールであり、研究者にこれまでにないレベルの詳細と小規模試料への洞察を提供します。その高度なイメージング技術により、SEMアプリケーションに人気のある選択肢であり続けています。