中古 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293670066 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai TF20は、顕微鏡構造の詳細な画像をキャプチャするために設計された多目的走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡はショットキーフィールドエミッションガンによって放出された粒子ビームを利用して、分離された粒子から大きな構造までの標本を測定、分析、可視化します。FEI Tecnai TF20は、200-300 umのスポットサイズの中エネルギー30 keV電子ビームを生成するタングステンフィラメントを備えています。この銃はまた、1-30 keVと1-10mmのビーム径の範囲の低エネルギービームを生成することができます。さらに、この顕微鏡は、高倍率で高速画像をキャプチャするために最適化された16 ビットカラーCCD検出器を備えたデジタルイメージングシステムを備えています。PHILIPS TECNAI TF-20は、調査中のサンプルから信号を収集するために、収差補正光学を利用しています。カラーフィルタ画像を作成するためのモノクロメータと、グローバルとローカルの両方の標本分析を行う専用ステージを備えています。試料は、空気、ガス、液体環境など、幅広い種類の試料環境から調べることができます。PHILIPS Tecnai TF20は、開口部に散乱した電子を測定できるインレンズ検出システムも備えています。これにより、数ナノメートルの範囲からSE画像を取得し、非常に短い範囲で電子ビームの吸収と散乱を測定することができます。また、この顕微鏡では、磁気レンズシステムを用いてサンプルの磁気特性を測定し、磁気ドメインの分布と濃度を調べることができます。FEI TECNAI TF-20は汎用性が高く、幅広い用途に高い汎用性を提供します。この顕微鏡は、非導電試料や広範囲の導電性特性を有する試料のイメージングに適しています。さらに、この顕微鏡は、生物学的標本のイメージング、エネルギー分散X線分析のためのサンプルの準備、断層撮影およびナノCTイメージングに非常に適しています。TECNAI TF-20は、サンプルのサイズ、形状、電気特性、組成を測定するだけでなく、高解像度の画像を可能にすることが評価されています。最先端のSEM技術と高度なイメージングおよび分析機能を組み合わせることで、幅広い研究、エンジニアリング、医療アプリケーションに理想的な機器となります。