中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9350685 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai G2は、材料科学、医療機器製造、半導体製造など、幅広い用途で使用される走査型電子顕微鏡です。顕微鏡の基本的な技術は、サンプルの上を移動するときに、高分解能と被写界深度の画像を与える走査電子ビームです。FEI Tecnai G2は、調整可能な焦点走査型電子顕微鏡（STEM）で、TEM顕微鏡とSEM顕微鏡の両方の特徴を1つの機器に独自に組み合わせています。PHILIPS Tecnai G2には、高度なデジタルイメージング機器、最適化されたキャプチャおよび処理アルゴリズムが搭載されており、スポットサイズは31。5nmにもなります。これにより、高コントラスト、解像度、ディテール、シャープネスを備えた最小構造でもイメージングできます。また、Tecnai G2は、従来のSEMイメージングモードで検出された二次電子を抑制することにより、コントラストを大幅に増加させる3次元イメージングを備えた調整可能な四極フィールドSTEM検出システムを備えています。調整可能なフィールドSTEMユニットは、単一の粒子解析と元素マップも可能です。これらの高性能イメージング機能に加えて、PHILIPS/FEI Tecnai G2は材料特性評価用に特別に設計されています。Energy Dispersive X-Ray （EDX）マシンを搭載しており、優れた感度と解像度を持つサンプルの元素分析を可能にします。高精細なEDSマッピングと組み合わせて、ユーザーは優れた精度でサンプルの構造/組成および微細構造の特徴を特徴付けることができます。この顕微鏡はまた、試料の調製とcryo-transferのためのcryo-ultramicrotomy段階と、収差補正イメージングのための高速傾斜技術を備えています。すなわち、FEI Tecnai G2走査型電子顕微鏡は、様々なサンプルの高分解能イメージングと材料特性評価を実現するために構築された先進的な多機能装置です。Adjustable-focus STEMテクノロジーとEDXおよびEDSマッピング機能により、ユーザーは比類のない詳細な微細構造機能を検査できます。