中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 を販売中

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ID: 9361086
ヴィンテージ: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM) With STEM mode Voltage range: 40 to 200 kV Bright field / Dark field Secondary electron detector for STEM mode Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector Chiller FEG Microscope Field emitter gun Camera: CCD Orius SC 1000 CCD With A860 GIF 2000 Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) Energy Filtered TEM (EFTEM) Nanometer Pattern Generating System (NPGS) FEG Replaced Point resolution: 0.27 nm Line resolution: 0.144 nm STEM Resolution: 1.0 nm Information limit: 0.18 nm Energy spread: 0.7 eV Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50° Maximum diffraction angle: ±10° Camera length: 35-2300 mm EDS Solid angle: 0.13 srad Standalone PC Operating system: Windows XP Voltage range: 80 to 300 kV Power supply: 200kV 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 TF20は、高性能の電界放出走査型電子顕微鏡(FESEM)です。材料科学、ライブセルイメージング、ナノスケールイメージングの用途向けに設計されています。この装置は、他のFESEMと比較して、優れた解像度と優れた収差補正のユニークな組み合わせを備えています。高度なAuto-Tune機能は、最適なビーム条件を維持し、作業セッションの長さに対して一貫したパフォーマンスを保証します。G2 TF20には、高分解能の電界放射銃(FEG)ソースが装備されており、優れた加速電圧安定性と優れた高分解能イメージング性能を提供します。このシステムは、材料の微細分析のためのX線検出器機能を備えており、また、生体サンプルのin-situイメージングが可能です。G2 TF20は、高精度のサンプル観測用に設計された独自の完全統合ユニットを備えています。TM-MDIS (Tilting-Magnification Multi-Dimensional Structured Illumination)マシンは、サンプルの特性評価と観察を改善する高度なイメージングソリューションを提供します。3D-White LightTM、 Digital KöhlerTM、 Multi-Dimensional Structured Illuminationのユニークな組み合わせにより、これまでにないレベルの3D情報を提供します。G2 TF20には30nm分解能検出器が搭載されており、サンプルの最小の特徴を詳細に観察することができます。また、SE-BF、 SE-DF、 SE-APRT、 SE-LF、 SE-BSEなどの高度なイメージング技術を提供し、サンプルに関する3D情報を取得します。さらに、G2 TF20は、表面フィーチャーおよび微細構造コンポーネントを効率的に特性評価および定量化するための自動パターン認識およびフィーチャー解析機能も提供します。このモデルは、強力な自動化と使いやすさを提供し、ユーザータイムを大幅に削減し、ラボの生産性を向上させます。G2 TF20は、高解像度イメージングを必要とする研究者やエンジニアのための究極のスキャン電子顕微鏡であり、サンプルの特性評価のための幅広い革新的な分析ツールです。
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