中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 Spirit Twin #293603998 を販売中

ID: 293603998
Transmission Electron Microscopes (TEM) EDX System for SAMX Sample holders Camera.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twinは、幅広いサンプルの優れたイメージングと特性評価用に設計されたハイエンドスキャニング電子顕微鏡(SEM)です。これにより、ナノメートルレベルの解像度でサンプルのさまざまな品質を測定、画像、分析することができます。G2スピリットツインは、スタンドアロン設計の頑丈なハウジングを備えており、特許取得済みのツインモードSEM検出器は、優れたフォーカスと非対称的な補正を提供します。この装置は、伝送(TEM)モードと二次電子(SE)モードの両方でイメージングが可能であり、より小さな構造や材料の高解像度イメージングを可能にします。G2 Spirit Twinは、完璧な画質、独立したリアルタイムイメージディスプレイ、広い視野を持つ高度なセンサー、洗練されたサンプルハンドリング機能、統合された分析および測定ツールを提供するハイエンドのAutoscanシステムも備えています。これらの特徴とその広い被写界深度により、G2 Spirit Twinは細分化された微細構造をうまく捕捉し、表面近くの物体やナノメートルレベルの解像度で埋められた構造物でさえも解決することができます。また、最大150kVまで加速できる電子源や、高倍率でもビーム安定性を実現・維持できるデフレクターステアリング装置を搭載しています。これにより、FEモードとSEモードの両方で高解像度のイメージングが可能になり、材料情報、形態、組成、相互接続を収集することができます。G2 Spirit Twinは、操作性、利便性、柔軟性に優れた使いやすく直感的なインターフェイスを提供します。さらに、このツールは長期的な運用のために堅牢に設計されており、効率的なデータ収集、信頼性の高いサンプル特性評価、分析を可能にします。さらに、G2 Spirit Twinには、簡単な観察のための低視聴モードやビームエネルギーを自動的に調整する自己調整加速アセットなど、利便性と費用対効果のために設計された追加機能が含まれており、関連するメンテナンスコストを削減します。FEI Tecnai G2 Spirit Twinは、優れたイメージング、特性評価、分析機能をお探しのお客様に理想的な選択肢であり、世界中のラボで信頼できるツールです。
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