中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 #293778924 を販売中

ID: 293778924
Transmission Electron Microscope (TEM) Source: FEG, 300 kV TEM and STEM alignments at 300 kV LORENTZ Lens STEM detectors: DPC detectors, including all electronics and SW for alignments and acquisitions Gatan Tridiem EELS spectrometer Gatan UltraScan 1000XP BRUKER EDX Side-entry detector system Single-tilt holder Double-tilt holder.
PHILIPS/FEI Tecnai F30は、信頼性の高いユーザーフレンドリーな機器で比類のない性能と汎用性を提供するように設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。多種多様な科学および産業用途に適しており、最先端の技術を統合しています。FEI F30は、20kV、高解像度のLaB6場エミッションガン(FEG)ソースを使用して、その高解像度、低コントラスト画像を生成します。エネルギー分散型X線 (EDX)マイクロアナリシス機能により、サンプルの素子特性を迅速かつ正確に評価できます。PHILIPS TECNAI F 30には、業界標準のジェミニII電子カラムと、サンプル交換用の超低真空(ULV)システムが搭載されています。また、小型の30µm銃ポジショナーを搭載しており、プロービング機能の新しいレベルの精度を30µmに小さくすることができます。PHILIPS Tecnai F30の高度なソフトウェアスイートには、迅速な画像取得、高度な画像処理、データ分析のための組み込みオートメーションツールが含まれています。これにより、高度な材料調査のためのFEI TECNAI F 30の機能が強化されます。サンプル観察のために、Tecnai F30は18 インチElmuirviewモノクロディスプレイを採用しています。このモニターは、優れた画像の鮮明さとコントラストを提供し、最大1,000,000倍の倍率を表示することができます。TECNAI F 30は、10nmの精度のEDX/X線マイクロアナリシス・システムを特徴とする数少ないSEMの1つです。このシステムは、ビーム時間とエネルギーを最小限に抑える必要があるサンプル上の化学構造の検出と同定に非常に有効です。PHILIPS F30 SEMは、優れた汎用性を備えたパワフルで高性能な楽器を求めるユーザーにとって理想的な選択肢です。高解像度画像と幅広い機能により、研究者や業界にとっても貴重なツールとなっています。洗練された自動化と使いやすいソフトウェアにより、サンプル処理時間の短縮と効率の向上により、時間とコストを大幅に削減できます。
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