中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293768966 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20は高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）で、さまざまな科学および産業用途に高度なイメージング機能を提供します。FEI Tecnai G2 F20は、電子顕微鏡ソリューションのリーディングプロバイダーであるFEI Companyによって設計および製造され、最先端の技術とユーザーフレンドリーな機能を組み合わせ、高解像度および分析機能を備えた優れたイメージング性能を提供します。PHILIPS Tecnai G2 F20の中心には、画像・解析用の高輝度電子ビームを提供する電界放出電子銃（FEG）があります。FEGは、安定でコヒーレントな電子ビームを生成し、ナノメートルスケールで超高解像度のイメージングを実現します。これにより、Tecnai G2 F20は、複雑な構造と微細な特徴を持つサンプルの詳細な可視化を必要とする研究アプリケーションに最適です。PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20は、ユーザーエクスペリエンスと生産性を高める汎用性と人間工学に基づいたデザインを備えています。この顕微鏡には直感的なユーザーインターフェイスとソフトウェア制御システムが装備されており、イメージングパラメータの簡単な操作と制御が可能です。また、オートフォーカス、スティグメーション、ビーム傾きなどの自動機能も提供しており、さまざまなサンプルやユーザー設定にわたって一貫した信頼性の高いイメージング結果を保証します。FEI Tecnai G2 F20の主な特徴の1つは、その高度なイメージングおよび分析機能です。この顕微鏡には、二次電子（SE）および逆散乱電子（BSE）検出器を含む複数の検出器が搭載されており、高いコントラストとディテールを持つサンプル表面のイメージングが可能です。さらに、PHILIPS Tecnai G2 F20は、エネルギー分散型X線分光法（EDS）および電子エネルギー損失分光法（EELS）の機能を提供し、サンプルの元素分析および化学特性評価を可能にします。Tecnai G2 F20はまた、その汎用性と性能を高める特殊なイメージングモードと技術の範囲を備えています。これには、高感度サンプルの低電圧イメージング、制御された大気中のin situ観察の環境イメージング、低温でのイメージングサンプルのクライオイメージングなどがあります。さらに、顕微鏡には専用サンプルホルダー、ステージオプション、ソフトウェアモジュールなどの追加アクセサリを装備し、特定の研究ニーズに対応する機能を拡張することができます。要約すると、PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20は洗練された強力な走査型電子顕微鏡で、幅広い科学および産業用途に高度なイメージングおよび分析機能を提供します。FEI Tecnai G2 F20は、高解像度イメージング、ユーザーフレンドリーなインターフェース、汎用性の高い設計により、マイクロナノスケールとナノスケールの世界を精密かつ詳細に探索および分析しようとする研究者やエンジニアにとって貴重なツールです。