中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293621526 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 Scanning Electron Microscope （SEM）は、研究者が驚異的な倍率とディテールで材料を観察できる先進的な装置です。これは、光の代わりに電子のビームでサンプルを爆撃し、表面の立体像を作成することによって行われます。FEI Tecnai G2 F20は電子源として電界エミッタを使用し、電子ビームのエネルギーとサイズをより正確に制御することができます。この高度な技術により、最大5ナノメートルのビームスポットサイズにより、研究者はサンプルの細部に焦点を当てることができます。PHILIPS Tecnai G2 F20は、基本画像から高解像度画像まで、プランとチルトモードの両方で幅広い解像度を提供します。これにより、ユーザーはサンプルの詳細な画像を、表面から原子レベルまで取得できます。Tecnai G2 F20は、ユーザーが各イメージングセッションをカスタマイズするためのさまざまな設定を選択できるインタラクティブな制御プラットフォームを備えています。これらの設定には、さまざまな検出器の設定、倍率レベル、ビーム電流、さらには画像品質を向上させるための画像処理設定が含まれます。さらに高解像度を目指している研究者のために、PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20はいくつかの追加機能を提供しています。イメージング中のドリフトを最小限に抑えるためにサンプルを高速に補正できる高度なオートアライメントシステムと、超低温イメージングを可能にするクライオステージを備えています。要するに、FEI Tecnai G2 F20スキャン電子顕微鏡は、材料を非常に精密に観察するために必要な強力な能力を研究者に提供する最先端の機器です。そのフィールドエミッタ、インタラクティブ制御プラットフォーム、およびその他の高度な機能の範囲のおかげで、G2 F20は、研究者が原子レベルで画期的な観測を行うことができます。