中古 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 UT D214 #293607886 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214は、高度なイメージングおよび特性評価アプリケーション向けに設計されたデュアルビームスキャン電子顕微鏡（SEM）です。この汎用性の高い顕微鏡は、学術、産業、材料研究産業において比類のない視覚分解能と分析能力を提供するように設計されています。FEI Tecnai G2 F20 UT D214は、広い視野と統合されたFIB/ESEM機能を含む印象的なイメージングおよび分析技術のコレクションを利用しています。この顕微鏡の高度なスキャン機能は、ショットキーエミッタと低温で冷却された高スループット電子源によって可能になります。これにより、広い視野でサンプル地形を高解像度で撮影することができます。倍率は5倍から2,000,000xまでの範囲で、さまざまな顕微鏡画像タスクを可能にします。さらに、可変圧力イメージング、可変圧力断層撮影、3D X線画像、大型サンプルチャンバー処理などの高度なイメージング機能も容易に利用できます。PHILIPS Tecnai G2 F20 UT D214のFIB/ESEM機能は、材料試験に不可欠です。そのDualBeam™技術は、高解像度でサンプルを画像化し、ナノスケール解析のための材料を対話的に除去することを可能にします。この顕微鏡のDLAN電子ビームリソグラフィは、表面の物質パターンや構造を直接書き込むことも可能であり、研究者はその特性をより堅牢に制御することができます。Tecnai G2 F20 UT D214はまた、高度なエネルギーと波長分散分光法（EDS/WDS）を含む高度な分析機能を提供します。これにより、ユーザーは元素分析を行い、サンプルのフェーズを特定することができます。要素は、高精度で異なる濃度で識別することができます。さらに、機器の衛星検出器は、EDSとWDSの両方に比類のないレベルの精度と速度を追加します。全体として、PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214は、無数のイメージングおよび分析タスクを達成するために使用される比類のない走査型電子顕微鏡です。統合されたDualBeam™およびFIB/ESEM機能により、高度なトポグラフィーイメージングが可能になり、エネルギー/波長分散分光法により、元素分析と識別が可能になります。高解像度スキャン機能と堅牢な分析機能を備えたFEI Tecnai G2 F20 UT D214は、さまざまな研究アプリケーションに対応した汎用性の高い選択肢です。