中古 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9277568 を販売中

PhillipsPHILIPS/FEI Tecnai F30走査型電子顕微鏡（SEM）は、材料分析のためのユニークで強力な装置です。優れた表面地形画像、高解像度の基本組成解析、および高速で信頼性の高いサンプルスキャンを提供するように設計されています。この多目的顕微鏡は、可変圧力または可変角度イメージングを使用してリアルタイムで観察できるサブナノメートル分解能の画像を提供します。コールドフィールドエミッションガンを搭載し、電子漏れを最小限に抑え、サンプル汚染を低減します。ハードとハイアスペクト比のサンプルでの使用に最適です。このシステムには、迅速かつ効率的なサンプル交換を可能にする「Smart Mobility」サンプルハンドリングソリューションも付属しています。サンプルの準備と画像取得は非常に効率的で、ユーザーに数分で正確な画像を提供できます。FEI F30には、高度なデジタルおよびアナログエレクトロニクスと高度なソフトウェアが搭載されており、イメージング機能を最適化します。汎用性の高いソフトウェアパッケージにより、さまざまなイメージングパラメータのビーム設定を検出、適応、追跡できます。同様に、利用できるさまざまなモード；マルチショットおよびプログレッシブスキャン、高倍率イメージング、スキャン材料、自由移動電子操作およびサンプル傾斜角度分析。PHILIPS TECNAI F 30は、独自の「EasyTEM」モードを備えており、必要なサンプルデータの種類に応じて事前に定義されたイメージング条件を簡単に選択することができます。FEI TECNAI F 30は、信頼性の高いパフォーマンスとユーザーフレンドリーなコントロールを兼ね備えており、幅広い科学アプリケーションに最適です。この顕微鏡は、サンプル材料の物理的および化学的性質に関する詳細な情報を提供するため、材料科学にとって貴重なツールです。その信頼性と柔軟性のあるデザインは、学生、研究者、実務家にとって魅力的な選択肢です。