中古 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9224715 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai F30は、最大倍率400,000x,解像度1。0ナノメートルのサンプルの高解像度画像を生成するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。真空システムを搭載し、数秒以内にサンプルをイメージングすることができ、静的および動的プロセスの両方のイメージングに適しています。FEI F30は、最適なイメージングのための高輝度、低ディバージェンス電子ビームを生成する場の放出電子銃を備えています。PHILIPS TECNAI F 30は、さまざまなサンプルに優れたコントラストと解像度のレベルを提供するために、3つのスキャン倍率、標準、低および非常に高いを提供します。視野全体は0。6mmから20mmまでの範囲で、広いサンプル領域を素早く正確に撮影できます。独自のスキャン速度により、データポイントの精度を犠牲にすることなく高解像度の画像を作成できます。PHILIPS/FEI F30は、効率的なサンプル調製と観察を可能にする自動イメージングワークフローを使用しています。ナノマテリアルのイメージングのために、Tecnai F30は360°Advanced Helical Scanningを含むいくつかの自動アライメントおよびナビゲーション機能をサポートしています。サンプルの容易な運行のために70mmの高さおよび200mmの幅の外的な段階の移動範囲は利用できます。PHILIPS Tecnai F30には、後方散乱電子、二次電子、反射電子、パンクロマティックイメージングなど、いくつかのイメージングモードがあります。また、統合されたEDXシステムで地形や元素のサーフェスマッピングを測定することもできます。充実したサンプルチャンバーを備えたPHILIPS F30は、直径175mm、高さ80mmまでのサンプルに対応できます。FEI TECNAI F 30には高度なイメージング機能が搭載されており、ユーザーは画像をカスタマイズして注釈を追加することができます。自動化された後方散乱電子イメージングを使用して3D画像を作成でき、Photostitchイメージングはパノラマ画像を作成する機能を提供します。PHILIPS/FEI TECNAI F 30は、画像比較や粒子解析などの分析ツールもサポートし、サンプルの潜在的な欠陥を迅速に特定します。FEI Tecnai F30は、さまざまなイメージングタスクのニーズに対応する柔軟性と拡張性を備えた最高のパフォーマンスを提供します。TECNAI F 30の堅牢な性質により、信頼性の高い動作が保証され、自動リモートアクセスや直感的なユーザーインターフェイスなどの機能により、高解像度イメージングのための信頼性の高いシステムを実現します。