中古 PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9375418 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai F20 Scanning Electron Microscope （SEM）は、研究者がさまざまな環境でサンプルの高解像度画像を得ることを可能にするハイエンドの科学機器です。F20には、精密かつ正確なサンプル移動を可能にする高度な5軸トラッキング装置が搭載されており、高解像度のイメージング機能を可能にします。また、高性能ガタンSFEG検出器を搭載し、広範囲の倍率にわたって優れたコントラストと解像度を提供します。F20は、イメージングサンプルの柔軟性を最大限に引き出すために、多目的で二重傾斜の10位置のサンプルステージで設計されています。サンプルステージは、直径100mm、重量3kgまでのサンプルをサポートするように設計されています。5軸追跡システムにより、サンプルステージがサンプルと完全に整列し、正確で正確なイメージングが可能です。F20は最大陽極電圧20kVで動作可能で、優れたコントラストと解像度を提供します。F20には電界放射砲（FEG）電子源が搭載されており、解像度が向上し安定性が向上します。この電子源によって近原子レベルの画像を生成することができますが、さまざまな検出器オプションにより、異なる厚さと化学組成の材料の明るいフィールド、暗いフィールド、およびイメージングを選択することができます。F20はまた、モノクロイメージング、光学ズーム、カラーイメージングなど、さまざまなデジタルイメージング機能を提供します。また、背面散乱型電子イメージングやエネルギーフィルターイメージングなど、さまざまなイメージング技術をサポートしており、研究者は複雑な構造に関する洞察を得ることができます。F20は防音フードとリフティングテーブルを備え、安全スイッチやガスハンドリングの自動排気など、さまざまな安全機能を備えています。さらに、マシンは、迅速かつ効率的な操作を可能にする便利なコントロールパネルが装備されています。FEI Tecnai F20 Scanning Electron Microscopeは、原子分解能に近い材料の高解像度画像を研究者に提供するために設計された先進的なハイエンド機器です。多彩なデザイン、幅広いイメージング機能、安全機能を備えたF20は、さまざまな研究用途に最適な機器です。