中古 PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293812127 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twinは、サブナノメートルとマクロレベルの両方でイメージング機能を提供する独自の機能を備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、レンズ内熱重力目的と高解像度の環境走査電子検出器の両方を備えています。インレンズの熱重力目的は、ほぼ中距離の視野で優れた分解能を提供し、環境スキャン電子検出器はナノ構造と表面形態の観察を可能にします。この最先端の技術により、ユーザーは生物学的および無機的主題の両方で豊富な形態学的特徴を観察することができます。SEMは、明るいフィールドと暗いフィールドのイメージング、可変圧力モード、カソドルミネッセンス、および後方散乱電子検出器など、さまざまな試験片の調査機能を提供します。また、デュアルチルトアクセス機能が自動化されているため、ユーザーはビューイングプレーンのミスアラインメントを動的に修正できます。この高度な機能は、曲線または不規則な材料をイメージングする場合に特に役立ちます。FEI Tecnai 20 S-Twinは、両面チャックや基板やダミーなどの最新サンプルホルダーと互換性があります。この柔軟性により、多様なサンプルタイプで多種多様な検査技術を実行することができます。PHILIPS Tecnai 20 S-Twinには、画像解析や自動パターン認識などの強力なソフトウェア機能もあります。高度な画像処理ツールと、画像データを保存および追跡する機能により、画像情報をすばやく操作および分析できます。また、顕微鏡のパラメータ設定にも優れており、イメージング機能を最大化できます。Tecnai 20 S-Twinは、高解像度画像とさまざまな分析ツールの両方を必要とする顕微鏡研究に最適なツールです。その優れた性能と柔軟性により、表面計測、ナノ加工、半導体欠損分析など、さまざまな用途に適しています。この最先端の顕微鏡は、信頼性の高い結果を迅速かつ正確に達成するために必要な高品質のイメージング機能をユーザーに提供することができます。