中古 PHILIPS / FEI Sirion #9236011 を販売中

PHILIPS/FEI Sirionは、ハイエンドの研究およびイメージング用途向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。微小およびナノスケールの対象物の詳細な3次元イメージングと特性評価のための高度な機能の範囲を提供します。FEI Sirionは、最先端のSEMのすべての機能と、究極のパフォーマンスと安定性を実現する堅牢な設計を組み合わせています。PHILIPS Sirionは超分解能イメージングと解析が可能で、マイクロおよびナノスケール構造の詳細な特性評価が可能です。トップダウン、チルト、中心線、角度、バックスキャッターイメージングなど、幅広いイメージングモードを提供します。高感度エネルギー分散X線分光法（EDX）、二次電子（SE）、逆散乱電子（BSE）検出器など、多種多様な検出器を搭載できます。Sirionには、高出力、高解像度の画像取得のための新しいデジタル信号処理システムがあります。また、イメージング時の汚染を低減し、サンプル損傷を最小限に抑えるための低真空環境を提供する可変圧力ガス注入システムを備えています。PHILIPS/FEI Sirionは、便利な操作のための特許取得済みのユーザーフレンドリーなタッチスクリーン制御システムも備えています。FEI Sirionは、サンプルローディングとアライメントを容易にするために、さまざまな自動サンプルステージ機能を提供します。さらに、超精密試料の位置決めのための電動Z軸を備えた「計測」サンプルステージを備えています。ステージには、完全なサンプル操作とアライメントのための3つの手動XY軸が装備されています。PHILIPS Sirionには高度な解析スイートがあり、化学的特性や物理的性質などの元素組成の詳細な分析が可能です。これには、事前にスクリーニングされた結晶位相マップのライブラリと、フーリエ変換ベースの画像処理のための統合された分析スイートが含まれています。全体として、Sirionは、多様な研究およびイメージング用途に最適な高度で高性能なSEMです。業界をリードする性能と安定性を備えた最新の設計およびエンジニアリングを提供します。その堅牢な設計により、微細およびナノスケール上の物体の詳細なイメージングと分析のための貴重なツールとなります。