中古 PHILIPS / FEI Sirion 200 #293814372 を販売中

PHILIPS/FEI Sirion 200スキャン電子顕微鏡（SEM）は、さまざまなイメージング機能と解析機能を提供する高性能顕微鏡です。これは、Sirionシリーズの電子顕微鏡の最新バージョンであり、ユーザーが実験室の特定のイメージングおよび分析ニーズに顕微鏡をカスタマイズすることを可能にするユニークなモジュール設計を備えています。FEIシリオン200は、走査電子と透過電子という2つの主要なモードで動作します。スキャン電子モードでは、標本表面に高エネルギーの電子ビームを走査することによって画像が形成されます。電子は試料の内部構造と相互作用し、増幅されて画像に変換される信号を返します。画像は10x〜250,000xの倍率で取得でき、最大2ナノメートルの解像度で表示されます。トランスミッション電子モードでは、ビームが標本を通過し、非常に細かい構造の詳細を可視化することができます。ビームは非常に小さな領域に集中し、顕微鏡の段階で薄い標本を通して伝達されます。伝達された電子は、試料材料の厚さが異なるため、コントラストのパターンを形成し、1ナノメートルの解像度で解決することができます。PHILIPS Sirion 200は、エネルギー分散分光法（EDS）などのさまざまな分析機能も提供しています。電子後方散乱回折（EBSD）、材料の結晶構造を分析するために使用することができます。標本上の要素の分布をマッピングするために使用できる元素マッピング。Sirion 200には、デジタルラインスキャンなどの多くの機能が強化されており、3Dイメージングを改善するために複数の角度で画像を取得できます。バックグラウンドノイズを低減した高感度検出器。そして使いやすく、ユーザーが顕微鏡をすばやくそして効率的に動かすことを可能にする最先端のユーザーインターフェイス。PHILIPS/FEI Sirion 200 SEMは、高度な画像解析および微細構造解析機能を備えた強力なスキャンおよび透過電子顕微鏡を必要とするあらゆる実験室に最適な装置です。