中古 PHILIPS / FEI Quanta 650 #293621244 を販売中

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ID: 293621244
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Automation (2) BRUKER XFlash-5030 EDS X-Ray spectroscopy Tungsten filament Texture analysis Chamber scope for real time observation Environmental: Hi-vac, Lo-vac Monitor Display Operating system: Windows Detectors: EVERHART-THORNLEY Secondary Quad solid state BSE Low vacuum SED (Large field) Gaseous SED (GSED) 5-Axis motorized stage: X: 150 mm Y: 150 mm Z: 65 mm R: n x 360° T: - 5° to 70° Hold up to 14 polished block (30 mm2 round) or 12 polished thin sections Vacuum mode: High vacuum: (<6*e-4 Pa) Low vacuum: (10-130Pa) and ESEM(10-2600 Pa) Air-cooled turbo with mechanical PVP Manual Tungsten emitter: 1-30 kV.
PHILIPS/FEI Quanta 650は、高度なイメージングおよび分析用に設計された高性能スキャン電子顕微鏡です。可変圧力、超高真空、および低真空モードで動作し、柔軟性、信頼性、および低長期維持コストを提供します。液体金属イオン源(LMIS)を使用して、イメージングと分析のための非常に集中した電子ビームを生成します。このビームは、0。01 pAから20 nAの間の調整可能な電流で、1 nmプローブのサイズと3 kVの着陸電圧を提供します。これにより、イメージングには0。6nm、分光には0。4nmの分解能が得られます。このイメージングシステムは、明るいフィールド、暗いフィールド、および差動コントラストイメージング用に設計されています。また、自動化されたサンプル位置とアライメントのインテリジェントな自動化を提供します。フィールドエミッションガン(FEG)を内蔵することで、非常に安定した高集束ビームを素早く生成することができます。FEGビームの解像度は0。15〜0。2nmで、ナノ構造の非常に詳細なイメージングが可能です。X線分光法、電子エネルギー損失分光法(EELS)、エネルギー濾過イメージング(EFI)など、さまざまな分析ツールが利用可能です。EELSは原子レベルでのサンプルの化学的および形態学的解析を提供し、EFIは複雑なサンプルにおける重元素の選択的イメージングを提供します。さらに、強力な信号処理ユニット(SPU)により、スキャン、分光測定などの技術の同期を完全に自動化できます。SPUはまた、結果の統計分析を含む測定および分析における貴重なフィードバックを提供します。FEI Quanta 650には、サンプルの自動操作のためのロボティクスシステムも装備されています。サンプルの読み込みとアンロード、および試験片を正確に操作して、最も特定の分析を実行できるようにするために使用できます。このシステムは、結果の再現性を向上させ、分析時間を短縮するのに役立ちます。全体として、PHILIPS Quanta 650は強力で効率的で高精度な走査型電子顕微鏡であり、幅広いイメージングおよび解析タスクに迅速かつ信頼性の高い結果を提供します。LMISとFEGビームソースの組み合わせは、高度なイメージングおよび分析機能およびロボットシステムと相まって、研究および産業用途に最適です。
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