中古 PHILIPS / FEI Quanta 450 FEG #293747589 を販売中
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ID: 293747589
Scanning Electron Microscope (SEM)
PFEIFFER Compact cold cathode gauge
Electron beam resolution:
High vacuum:
1.2 nm at 30 kV (SED)
2.9 nm at 1 kV (SED)
Low vacuum:
1.5 nm at 30 kV (SED)
3.1 nm at 3 kV (SED)
Extended low-vacuum mode
1.4 nm at 30 kV (SED)
Detectors:
Everhart-Thornley SED
Low vacuum SED
Gaseous SE (used in ESEM mode)
IR-CCD
Chambers:
High-vacuum: < 6*10-4 Pa
Low-vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM-vacuum: 10 to 4000 Pa
X-Y-Z-Tilt-rotate motorized stage:
X = Y = 100 mm
Z = 60 mm
T= +70° to -5°
System control:
Graphical User Interface (GUI)
Resolution: 1280 x 1024
Keyboard
Optical mouse
Operating system: Windows XP
LCD Display, 19"
DVD / RW
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscope （SEM）は、生物学、工業、その他の材料におけるナノスケールの特徴を研究するための最先端の装置です。フィールドエミッションガン（FEG）ソースは、0。7 Angstromsの究極の解像度と高い輝度と安定性を提供します。顕微鏡はサンプルの磁気、電気、光学および機械特性をイメージすることができます。FEI Quanta 450 FEG SEMにはいくつかの注目すべき機能があります。Quanta 450の大きな検出器は、非常に低ノイズレベルの超高解像度イメージングを可能にします。そのユーザー制御ビームブランカーと発散検出器エレクトロニクスは、コントラストと柔軟性を向上させます。Quanta 450の「Smart SEM」モードは、サンプルと条件に応じてパラメータを自動的に最適化することで、顕微鏡をユーザーフレンドリーにします。Quanta 450は、いくつかのイメージングモードを特徴としています。これらには、低真空、高真空、および環境イメージングが含まれます。また、差動位相コントラストフィルタリング、位相シフト付きチルトコントラストなど、いくつかのイメージングフィルタも含まれています。これにより、サンプル中の超微細な特徴を観察することができます。また、Quanta 450には後方散乱電子検出器が搭載されており、被写界深度の高い特徴のイメージングを可能にし、その二次電子検出器はコントラスト分解能を高めます。フィルタレスイメージフィルタはイメージングプロセスを自動化し、電動ステージは大きなサンプル間のナビゲーションを容易にします。Quanta 450には、サンプルの完全性を維持しながら熱損傷を最小限に抑える低真空システムが装備されています。Quanta 450は、室温で有機試料をイメージングすることができます。結論として、PHILIPS Quanta 450 FEG Scanning Electron Microscopeは、ナノスケールのイメージング用に設計された先進的な装置です。これは、超高解像度イメージングのためのフィールドエミッションガン（FEG）ソースだけでなく、いくつかのイメージングモード、フィルタと検出器を備えています。Quanta 450の電動ステージはサンプル間のナビゲーションも容易になり、低真空システムはサンプルの完全性と低熱損傷を保証します。
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