中古 PHILIPS / FEI Quanta 400 #293829906 を販売中

PHILIPS/FEI Quanta 400は、高解像度イメージング用途向けに構築された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。背景散乱電子（BSE）イメージング、X線マイクロアナリシス、3Dトポグラフィ測定、粒子サイズおよび形態定量、電圧コントラストなど、さまざまなイメージングおよび分析技術を利用しています。この機能の組み合わせにより、研究者はサンプルの化学的、構造的、電気的特性をマイクロスケールで特徴付けるための強力なツールを提供します。FEI Quanta 400のベースプラットフォームは、高真空室用真空装置、サンプルステージ、電子光学カラム、試料操作システム、デジタル検出器、およびコンピュータ制御ユニットで構成されています。電子光学カラムには、可変スポットサイズとエネルギーを持つ電子ビームを生成するために設計された集中電子銃があり、サンプルの表面を迅速に集中してスキャンすることができます。荷電粒子はサンプルの表面と相互作用し、電子を放出または吸収し、サンプルの組成と地形に関する情報を提供します。PHILIPS Quanta 400のサンプルステージは、サンプルの精密アライメントと位置決めを目的とした5軸設計です。ステージを使用すると、3Dトポグラフィやデュアルビームイメージングに加えて、高倍率と広視野画像の両方を取得できます。電子の流れに対してサンプルを傾けることができ、高精度なイメージング制御が可能です。Quanta 400に搭載されているデジタル検出器は、高速イメージングと解析に最適化された高解像度、低暗黒電流検出器です。最大2つの検出器からの電子信号を受け入れることができ、並列イメージングとマルチチャネル解析が可能です。このハードウェアにより、マルチスケール画像の強化、デコンボリューション、しきい値の保持など、高度な画像処理機能も可能になります。計算機制御機械は自動化された、正確なサンプル制御を可能にします。ソフトウェアインターフェイスは、インストゥルメントとのユーザーインタラクションを簡素化し、パラメーターを簡単かつ効率的に調整するプロセスを実現します。さらに、制御ツールを設定して、自動断層撮影、パーティクルサイジング、高倍率イメージングなどのタスクを実行できます。PHILIPS/FEI Quanta 400は、さまざまなイメージングおよび解析技術を可能にする強力なマルチモードSEMプラットフォームをユーザーに提供します。FEI Quanta 400は、高度な電磁石、正確なサンプル操作、およびデジタルイメージングの組み合わせにより、研究用途に最適な走査型電子顕微鏡の1つです。