中古 PHILIPS / FEI Quanta 250 FEG #9409887 を販売中

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ID: 9409887
Scanning Electron Microscope (SEM) EDAX Energy spectrometer Electron backscatter diffractometer Electron beam voltage range: 200 V-30 kV Electron beam resolution: High vacuum mode: 1.0 nm / 30 kV (SE) 2.5 nm / 30 kV (BSE) 3.0 nm / 1 kV (SE) Low vacuum mode: 1.4 nm / 30 kV (SE) 2.5 nm / 30 kV (BSE) 3.0 nm / 3 kV (SE) Circumferential scan mode (ESEM): 1.4 nm / 30 kV (SE).
FEI Quanta 250 Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG SEM)は、顕微鏡サンプル表面の詳細な解析を可能にする強力な装置です。最大15kVの加速電圧と安定した高解像度イメージングシステムを備えたQuanta 250は、何百万枚ものX倍率画像を提供できます。FEG SEMの優れた性能は、超安定冷却電子源を使用した電界放射砲によって達成されています。これにより顕微鏡の解像度が大幅に向上し、優れた解像度と明瞭さでサンプルの特徴を明らかにすることができます。さらに、Quanta 250は最高の感度を目指して設計されており、単一または小さな粒子でも検出することができ、atDepth Resolutionは表面画像解像度の明瞭さを備えています。Quanta 250で利用可能な幅広いサンプル調製オプションにより、あらゆる材料の表面を徹底的に探索できます。非導電サンプルから導電性、磁気、機械的に困難なアプリケーションまで、このシステムには最新の技術が搭載されており、さまざまな高度な技術を実行できます。マクロイメージングに加えて、Quanta 250には分析機能も搭載されています。高度なEDX技術により、結晶解析、位相同定、定量元素マッピングが可能です。そのWDS技術は定性的および半定量的な分析をサポートしており、表面電位、トライボロジー、エッチングプロセスの最適化および汚染制御研究の高度で洗練された分析に適しています。最後に、Quanta 250は、OmniScan、 ImageVision、 Image2Dなどのプログラムを含む強力なデジタル画像処理およびイメージングソフトウェアを提供し、研究者にその結果を迅速に分析して解釈する力を与えます。さらに、Quanta 250の高度なハードウェアおよびソフトウェア機能は、複雑なイメージングおよびデータ処理機能を必要とするユーザーにとって理想的な選択肢です。PHILIPS/FEI Quanta 250 FEGは、顕微鏡サンプル表面の詳細な分析と探索を可能にする強力で汎用性の高い機器です。優れた解像度、高度な分析機能、強力なデジタルイメージングソフトウェアを備えたこのシステムは、試験片の包括的な分析を必要とするラボにとって非常に貴重なツールです。
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