中古 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9307654 を販売中
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販売された
ID: 9307654
ヴィンテージ: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten source
Electron optics:
Thermal emission SEM column
With dual-anode source emission geometry
Fixed objective aperture and through lens differential pumping
Filament lifetime: > 100 Hours
Resolution:
High vacuum:
3.0 nm at 30 kV
4.0 nm at 30 kV
10 nm at 3 kV
Low vacuum:
3.0 nm at 30 kV
4.0 nm at 30 kV
<12 nm at 3 kV
Extended vacuum mode (ESEM): - 3.0 nm at 30 kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Probe current: up to 2μA
Detectors:
Everhardt thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
IR-CCD
Solid state BSED
Vacuum chamber:
High vacuum: < 6e^-4 Pa
Low vacuum: 10 to 130 Pa
ESEM Vacuum: 10 to 2,600 Pa
Vacuum system:
240 l/s TMP, PVP
Lens differential pumping
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Chamber:
Left to right: 284 mm
Analytical WD: 10 mm
(8) Ports
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X, Y: 50 mm
Z: 50 mm (25mm motorized)
T: -15° to +75° (Manual)
R: 360° Continuous
Repeatability: 2 μm
System control:
32-Bit graphical user interface
With keyboard and optical mouse
Image display: 19" LCD, SVGA 1280 x 1024
Single frame / 4-Quadrants image display
4-Quadrants live
Quanta started training CD
Image processor:
Up to 4096 x 3536 pixels
File type: TIFF (8- /16-bit)
Standard utilities:
Digital video recording
Temperature control
Image histogram and measurement
System option:
PC and LCD, 19"
Monitor and DVD R/W
Multi-functional control panel
Controlled Pettier cooled
Specimen stage
Controlled 1000°C heating stage
Controlled 1500°C heating stage
Remote control
Video printer
Specimen holder kit
EDS
WDS
EBSD
Stray AC magnetic fields:
Asynchronous: < 100 nT
Synchronous: < 300 nT
Power consumption: < 2.0kVA for basic microscope
Temperature range: 15-30°C
Relative humidity: Below 80% RH
Door width: 90 cm
Operating system: Windows XP
No compressed air or water cooling
Power supply: 230V (+6%, -10%), 50/60 Hz (+/- 1%)
2003 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200スキャン電子顕微鏡（SEM）は、表面や小物の構造特性を非常に高い倍率で評価するための高度なイメージングツールです。STEM検出器を内蔵しているため、非導入試料と導電試料の両方の詳細な分析が可能です。FEI Quanta 200には、簡単に調節可能なツインレンズのカラムが装備されており、さまざまな倍率で幅広いサンプルを正確にサンプリングすることができます。パーティクルサイジング解析の自動化、元素解析の自動化など、高度な画像解析システムを備えています。また、幅広いバックスキャッター検出器を備えた高度なイメージングシステムを採用しており、サブミクロン標本の高解像度イメージングが可能です。これは、サンプル中のさまざまな粒子や分子を検出してカウントできる列の分析システムを特徴としています。PHILIPS Quanta 200は高解像度SEMイメージング用の高性能電子光学素子です。その高エネルギー電子銃は、最大200kVビーム電流を生成し、優れた被写界深度と画像コントラストを提供します。また、高角倍率機能も備えており、ユーザーは特定の高倍率でも隠れた構造や詳細を見ることができます。Quanta 200には、導電性および非導電性試料を含むさまざまな試料タイプに対応できるサンプルホルダーが装備されています。また、冷却ステージや温度モニターなど、さまざまな電極オプションを備えています。これにより、要素情報のより正確な検出が可能になります。PHILIPS/FEI Quanta 200はユーザーフレンドリーに設計されており、イメージングと分析プロセスをユーザーに導くチュートリアル機能が含まれています。FEI Quanta 200は、微細な詳細を分析し、非常に高い倍率でも隠れた特徴や構造を特定する必要がある人のための優れたイメージングツールです。これは、信頼性が高く効率的なスキャン電子顕微鏡であり、膨大な量の詳細な画像とデータを提供することができます。部品や部品から生体試料まで、あらゆる種類のサンプルを分析するのに最適です。
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