中古 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9145600 を販売中

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ID: 9145600
ヴィンテージ: 2005
3D Focused Dual Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM) I-Gun type: Magnum column E-Gun type: Tungsten E-column Beam current: 10 pA ~ 20 nA W-Filament No EDAX Vacuum type: Turbo molecular pump Mechanical pump Ion getter pump Deposition system: Metal deposition (Pt) Stage type: 50 x 50 mm TSMCB Operating system: MS Windows XP ETD Detector 2005 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200は、マイクロおよびナノスケールのサンプルの高解像度イメージングおよび分析用に特別に設計された、最新の高度な走査型電子顕微鏡(SEM)です。FEI Quanta 200の高性能デザインは、革新的な技術に基づいており、最も要求の厳しいアプリケーションで優れたイメージング、精度、およびパフォーマンスを提供します。PHILIPS Quanta 200は、解像度、コントラスト、倍率に優れた高解像度デジタルイメージング機器です。低ノイズの集積型電子検出器(ICED)やショットキー電界放出源を含む高度な光学系は、非常に詳細な画像を提供します。オプションの高輝度場発光源(FES)はさらに高分解能で、Quanta 200でマイクロスケールとナノメートルスケールで材料を調べることができます。PHILIPS/FEI Quanta 200には、科学者が顕微鏡の設定を正確に制御できる強力な電子機器が搭載されています。内蔵ソフトウェアを使用すると、ユーザーは最高の結果を得るために画像と顕微鏡のパラメータを操作することができます。HTイメージング、電子ビームフォーカス、イメージベースの自動ステッチ、Zコントラストモードなどの機能により、分析に余分なデータが提供されます。FEI Quanta 200のサンプルチャンバーは、安定した振動のない環境を提供し、正確なイメージングと測定を保証するように設計されています。環境チャンバーは、サンプルチャンバー内の温度と湿度の適切な制御と、環境汚染からの保護を提供します。オプションの機内半導体解析チャンバ(ISAC)を使用すると、ユーザーは見事な解像度と精度で薄膜を研究することができます。PHILIPS Quanta 200の渦電流除去システムでは、導電性サンプルの電気特性を分析および測定することができます。可変圧力システムにより、非導電性サンプルの研究が可能になり、複数のイオン源CS-EMS IonColumn技術により、これまでにない速度と精度でサンプルを分析することができます。Quanta 200は汎用性があり、幅広いアプリケーションのニーズに合わせて適応およびアップグレードすることができます。これは、高品質のイメージング、精度、および性能を必要とする研究所や研究機関にとって理想的な選択肢です。
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