中古 PHILIPS / FEI Quanta 200 #293807174 を販売中
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ID: 293807174
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dual anode source emission geometry
Fixed objective aperture
Through-the-lens differential pumping
Filament lifetime: >100 hours
Resolution:
3nm at 30kV (SE)
4nm at 30kV (BSE)
10nm at 3kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2µA
Detectors:
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
Solid-state BSED
Gaseous analytical BSED (GAD)
Vacuum system:
240 l/s TMP
PVP
Beam gas path length: 10/2 mm
Chamber:
(8) Ports
Left to right: 284mm
Analytical WD: 10mm
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X,Y: 50mm
Z: 50mm
R: 360°
T: -15° to +75°
Repeatability: 2µm
Image display:
LCD: 19 inch
SVGA: 1280 x 1024
System control:
Keyboard
Optical mouse
Single frame
(4) Quadrant image display
(4) Quadrant live
Graphical user interface: 32-Bit
Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI Quanta 200は、様々な開発段階における材料の高解像度イメージングと解析を提供するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、高度な光学系、制御システム、ソフトウェアを組み合わせて、最適な性能と精度を実現しています。この装置は、材料および部品分析の分野でさまざまなタスクにさまざまな分析ソリューションを提供します。FEI Quanta 200は最大10桁の大きさのダイナミックレンジを備えており、最大3nmの解像度で詳細を画像化および検出できます。このユニットには、高精度なイメージングのための可変圧力操作と調整機能を採用した最上位レンズが装備されています。また、デジタルイメージング技術を活用して、広い被写界深度の鋭いレンダリング画像を生成します。PHILIPS Quanta 200は、最適化された光学系とともに、高感度検出器、イメージアンプ、高度な電子制御を備え、正確な測定と機能を提供します。それは0。1nmまで粒子、ポクセルおよび粒子体積を検出できます。この検出器は、水素などの軽元素からウランなどの重元素まで、さまざまな元素を検出でき、X線測定を比較的容易に行うことができます。Quanta 200は、優れたデータビジュアライゼーションと分析機能を提供する高度なソフトウェアパッケージも備えています。グラフィカルユーザーインターフェイスは、カスタマイズされたレポート作成およびデータ処理ソリューションを可能にします。また、より複雑な研究開発作業のために、ロボットシステムに接続することもできます。PHILIPS/FEI Quanta 200は、高解像度の画像処理と正確な解析を可能にする強力な機器です。それは最適な性能のための光学、検出器、電子工学制御およびソフトウェアの高度のスイートを採用します。その機能と属性により、FEI Quanta 200は材料および部品分析の分野での研究開発に理想的です。
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