中古 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #9251682 を販売中

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ID: 9251682
ヴィンテージ: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) With BRUKER XFlash 6|10 EDX Detector PC Included 2007 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEGは走査型電子顕微鏡(SEM)です。高度な電界放射銃(FEG)の使用と、デジタルイメージングやスキャン電子回折などのユニークな機能を組み合わせています。FEGは通常、通常のSEMよりも最大10倍低い加速電圧を使用し、最大20ナノメートルの画像を詳細に作成できます。Quanta 200は、約1-2ミリラジアンの最小電子ビームスポットサイズを持つ高分解能フィールド放出銃を備えています。また、FEGはより高い電流密度を提供し、他の電子銃よりも高い信号対ノイズ比をもたらします。これにより、薄い標本と厚い標本の両方の高品質な画像を生成することができます。Quanta 200はまた、さまざまなサンプルの高解像度画像を生成するためのデジタルイメージング装置を備えています。イメージングシステムは、ユーザーのニーズに応じて、高解像度から低解像度の画像をキャプチャできます。さらに、このSEMは特殊な走査電子回折(SED)モードも備えており、結晶構造を高い精度で解析することができます。Quanta 200は、さまざまなアプリケーションに使用できるさまざまなアクセサリーも提供しています。これらには、1〜30 eVのエネルギーを持つ電子を検出できる特別な高分解能の二次電子検出器が含まれます。大きなオブジェクトをスキャンするための自動スキャンエリアステージ。磁性材料を分析するための偏光電子ビームユニットです。最後に、Quanta 200は、さまざまな条件下でのイメージング標本の環境走査電子顕微鏡(ESEM)も可能です。これには、真空、高湿度、高温での動作が含まれます。また、電子スポットサイズが小さいため、非真空状態でも高画質を維持できます。結論として、FEI Quanta 200 FEGは、比類のない性能を提供する走査型電子顕微鏡です。最先端のFEG、デジタルイメージング、およびSED機能を備えたQuanta 200は、結晶構造から大型オブジェクトまで、あらゆる標本の詳細な画像を提供できます。また、さまざまな動作条件下で動作するため、あらゆるタイプの状況に対応できます。
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