中古 PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970 を販売中
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ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM)
Dual beam
With Ga ion source
Acceleration voltage: 2-30kV
Cutting-edge system
Imaging and micro machining
Surface imaging resolution: 1nm
Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector
FIB Resolution: 5-7nm
ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3Dは、スキャン電子顕微鏡(SEM)で、イメージング、解析、計測用途に幅広い機能を提供します。他のSEMモデルよりも高い性能、精度、柔軟性を約束する高分解能透過電子顕微鏡(TEM)です。二次電子検出器として、FEI Quanta 200 3Dは、従来のBEDと高効率のSuperFEGの両方を含むハイブリッド構成を備えたBackscatter電子検出器(BED)を備えています。PHILIPS Quanta 200 3Dは最大500,000倍の倍率を提供し、卓越した解像度を提供します。この装置には独自の自動アライメントステージが装備されており、ユーザーはサンプル構造を迅速かつ正確にプロファイルして自動的にアライメントすることができます。Quanta 200 3Dはまた、20kV固定ビーム検出器を備えており、イメージングサンプルの優れた解像度と安定性を保証します。さらに、PHILIPS/FEI Quanta 200 3Dの優れた電子光学は、電流供給限界やソース電圧などのイメージングパラメータを最適化するための最大限の柔軟性をユーザーに提供します。FEI Quanta 200 3Dは、高速CCDカメラも備えており、リアルタイムの観察と分析を可能にします。PHILIPS Quanta 200 3Dの精度と安定性により、動作環境での立体構造のイメージングに特に適しています。非接触型インカラム検出器や高度な画像処理アルゴリズムなどの高度な機能により、複雑な立体構造を正確に可視化し制御することができます。さらに、Quanta 200 3Dは、ビーム分析と計測のためのオプションの範囲を提供しています。これらには、高度電子後方散乱パターン(EBSP)分光計、エネルギー分散X線 (EDX)分光計、残留ガス分析装置(RGA)が含まれます。これらのオプションをSuperFEGおよび標準SEM検出器と組み合わせることで、ユーザーは高速で正確なデータ取得と分析を実現できます。結論として、PHILIPS/FEI Quanta 200 3Dは最先端の走査型電子顕微鏡であり、イメージング、解析、計測アプリケーションに大きな利点を提供します。卓越した解像度、精度、柔軟性により、複雑な3次元構造、特に複雑な動作環境の可視化および制御に最適です。さらに、その高度な機能により、高速で正確なデータ取得と分析が可能になり、ビーム解析および計測オプションの範囲により、ユーザーはサンプル特性を手動で介入することなく迅速かつ最適化することができます。全体として、FEI Quanta 200 3Dは、現代の実験室で貴重で強力なツールです。
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