中古 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #9280072 を販売中
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販売された
ID: 9280072
Dual beam system
Model no: FP 2065/31
EDS Thermo M65C-6UPS-SN
Noran system 7 with 60 mm² ultradry detector
Omniprobe autoprobe
THERMOCUBE 400 Series solid state chiller
Workstation with Windows 2000
PC with Windows 7
(2) LCD monitors
Sirion electron column
Magnum ion column with fast ion beam blanker
5-Axis motorized stage: 50 mm x 50 mm
In-lens SE and BSE detector (TLD with SE and BSE)
Everhart-Thornley SE detector
CCD IR Camera
Oil-free pumping system
Insulator enhanced etch XeF2
Platinum metal deposition
Manual user interface
UMB FIB / TEM specimen and holder kit
Bonus:
Autoprobe 200 nanomanipulator
Noran system 7 advanced spectral acquisition
Imaging system with ultradry premium EDS detector (60 mm² sensor, 129 eV resolution)
2006 vintage.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200は最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。高解像度のField Emission gun (FEG)を搭載し、優れた信号対ノイズ比と非常に優れた横解像度で高コントラスト画像を保証します。このタイプの装置は、高速顕微鏡イメージング、微細構造および結晶構造研究、元素解析、および微小およびナノスケールのオブジェクトの3Dイメージングなどの用途にしばしば使用されます。FEI Nova NanoLab 200は、高度なイメージングおよび分析機能を備えており、さまざまな分野に適しています。主なイメージングモードは、二次電子(SE)、逆散乱電子(BSE)、オーガー電子イメージング(AES)です。また、TEフィルタと絞りの範囲があり、イメージング条件を最適化します。PHILIPS Nova NanoLab 200には、生物学的、地質学的、法医学的サンプルの高解像度画像を取得するために、完全に覆われたシールド環境で温度制御イメージングを可能にする環境チャンバーが含まれています。このセットアップにより、過度の外部影響を受けることなく、ネイティブ状態のサンプルのイメージングと分析が可能になります。化学分析のために、Nova NanoLab 200には、あらゆるサンプルの元素分布を可能にするフル機能のEnergy Dispersive X-ray Spectrometer (EDS)が含まれています。自動分光パラメータの最適化により、サンプル内の任意の原子番号要素を迅速かつ容易に定量化できます。内蔵のAuger Pixel Imaging (API)モードを使用すると、デバイス構成をnm解像度で迅速にマッピングおよび定量化できます。PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200には、マイクロマニピュレーション、真空調製、電子ビームリソグラフィ用の幅広いアクセサリーも含まれています。これにより、材料科学、半導体、ナノテクノロジーへの応用範囲が大幅に拡大します。全体として、FEI Nova NanoLab 200は、高度なイメージングと分析機能を備えた汎用性とユーザーフレンドリーなシステムです。これにより、材料科学から生物・生物医学研究、微細・ナノスケール解析まで幅広い分野での応用に最適です。
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