中古 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293824479 を販売中
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ID: 293824479
Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
BRUKER XFlash 6160 EDS
EBSD Detectror
Micro XRF
Plasma cleaner
Selective carbon mill (MgSOm 7H20)
BRUKER Xtrace control unit
BRUKER Signal processing unit
PC.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200は、最大25nmの分解能でナノスケールの構造を観察するために使用できる高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。試料に直接金属を堆積させる電子ビーム誘導堆積（EBID）装置や高度な画像処理など、ユニークな機能を備えています。また、2Dから3Dまでのナノ構造材料を製造することができます。NanoLab 200には、高真空モードと低真空モードの両方で優れた性能を約束する最新の電子光学系が含まれており、イメージングから分析技術まで幅広い用途を保証します。この顕微鏡は、高真空モードでサンプルのナノスケール観察を行うための優れた分解能を提供します。また、元素解析にはエネルギー分散分光計（EDS）を使用し、ALS （Auto-Alignment System）を使用して操作を容易にします。FEI Nova NanoLab 200は、6インチの大型サンプルステージを備えており、すべてのサンプルサイズに合わせて幅広い試料調製技術を提供します。また、より良いサンプル交換のためにチャンバーに組み込まれた自動ステージが装備されています。NanoLab 200は、最大出力電圧30kV、倍率4x〜1000,000xの強力なイメージングユニットです。これは非常に高いレベルのディテールと精度でクリスタルクリアな画像を生成します。また、独自のFIB-SEMマシンを搭載しており、高度なイメージング、超小型構造の正確な3D格子加工、ナノエレクトロニクスの自己組み立てを可能にします。最後に、NanoLab 200には、試験片を迅速かつ簡単に分析するためのリアルタイムのデータ収集ツールがあります。また、ハイスループット調査にも最適で、1回のショットで最大5つのサンプルを分析することができます。結論として、FEIのPHILIPS Nova NanoLab 200は、優れた解像度とディテールで優れた性能を有する高度な走査型電子顕微鏡です。イメージングから元素分析、ナノ構造の製造まで、幅広い用途に適しています。
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