中古 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293800790 を販売中

ID: 293800790
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200は、高分解能イメージングとサンプル分析に最適な性能を備えた走査型電子顕微鏡です。これは、高品質の3D画像を生成し、ナノスケール範囲のサンプルを分析する機能を備えた、汎用性の高いユーザーフレンドリーな顕微鏡です。NanoLab 200は、柔軟なサンプルステージ、オートメーションソフトウェア、完全に自動化されたアライメントとフォーカシング、および操作を簡単にするその他の自動機能を備えています。この装置には、サーミオン銃と高性能のコールドフィールド放射銃が含まれており、どちらもスポットサイズ、フォーカス、加速電圧が調整可能です。銃および段階は同時に接続することができ、同時に電気、磁気および化学測定を可能にします。システムは、ユーザーフレンドリーな制御ソフトウェアと相まって、画像やデータの迅速な取得を可能にする超高解像度デジタルカメラを搭載しています。NanoLab 200は、高解像度イメージング用に設計されています。単位は0。9 nm/pixelの最高の決断、150 umの焦点の最高の深さを備えています。視野は0。2から2 µmの範囲で、小さなサンプルの詳細な表現を可能にします。ナノスケール構造や分子の解析には、サンプルサイズを小さくすることが不可欠です。マシンには、洗練されたソフトウェアの包括的なセットが含まれています。Widestarソフトウェアは、3Dイメージング、材料の元素組成のサンプルベース解析、画像解析と操作、定量分析などの高度な機能を提供します。Tescanソフトウェアなどの追加ソフトウェアを使用して、幅広い断層撮影と高速イメージングを作成できます。NanoLab 200は、故障解析、高解像度イメージング、材料研究、生体試料特性評価、半導体処理など、用途に応じた多目的な実験を行うことができます。このツールの高い安定性と精度により、歪みのないソフトで壊れやすいサンプルを分析することができます。全体として、FEI Nova NanoLab 200は強力で信頼性の高い走査型電子顕微鏡で、さまざまなイメージング、解析、特性評価作業に適しています。その高度なソフトウェア、使いやすさと汎用性は、ナノスケールのサンプル分析に信頼性の高い資産を必要とする人にとって理想的な選択肢です。
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