中古 PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165 を販売中

PHILIPS/FEI Nova 600走査型電子顕微鏡（SEM）は、サンプルの超高解像度検査および分析用に設計された高解像度イメージングおよび分析装置です。ナノメートルスケールまでの表面の特徴を特定し、半導体やその他のナノスケール構造の高解像度画像を提供することができます。装置は、カルーセル化された二次電子（SE）検出器、電子ビーム操作用の静電ガンを備えた電子カラム、およびサンプルステージで構成されています。FEI Nova 600には、エネルギー分散X線分光検出器（EDX）も搭載されており、サンプルの定性的かつ定量的な元素分析が可能です。PHILIPS NOVA600の電子銃は、さまざまな電子ビーム電圧と電流密度を生成することができます。これにより、1 nmの表面フィーチャーから高解像度の画像を生成することができます。ビーム操作ユニットは、ラスターパターンでX面およびY面内の電子ビームを偏向させることによって動作し、サンプル上の表面フィーチャーの局在を可能にします。NOVA600のサンプルステージは、x、 y、 zの3つの軸で動作することができます。これにより、SEMはサンプル全体をスキャンして、サンプルの表面を正確に3Dマッピングできます。これにより、サンプルの地形の詳細レベルが向上し、サンプル表面に特定のエッジと形状がどこに配置されているかを正確に特定できます。このマシンには、画像の解像度と細かい機能のコントラストを最適化するのに役立つ自動機能もあります。これには、全体的な画質を最適化するためのノイズリダクションと、サンプル表面のさまざまな領域でサンプルの焦点深度を制御するためのダイナミックフォーカスが含まれます。最後に、PHILIPS Nova 600には、二次電子検出器とEDXSpectroscopy検出器の両方が装備されています。二次電子検出器は、サンプルから放出された電子を利用して、サンプルのコントラストと分解能を最適化するように設計されています。EDXSpectroscopyは、試料表面に存在する元素を定性的に同定するだけでなく、試料の定量的元素分析を可能にします。結論として、PHILIPS/FEI NOVA600 Scanning Electron Microscopeは非常に強力なイメージングおよび分析機器です。ナノメートルスケールの超高解像度イメージングおよび元素解析機能を提供することにより、サンプルの詳細な検査を可能にします。自動化された機能とビーム操作アセットは、サンプルの地形の正確な3Dマップを提供し、表面フィーチャーと形状の正確な位置測定を可能にします。