中古 PHILIPS / FEI Inspect F50 #9239425 を販売中

PHILIPS/FEI Inspect F50は、マイクロおよびナノスケールで標本の高分解能イメージングおよび分析を行うことができる走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、正確な結果を提供する機能と機能の広い範囲を備えています。FEI Inspect F50は、安定性を向上させた高品質の電子ビームを生成する電界放射銃を備えており、運用コストを最小限に抑えながら高解像度の画像を得ることができます。電子カラムの収差補正により、標本の見事な画像を得ることができ、被写界深度や全体像の鮮明さも向上します。二次電子検出器は、被写界深度が大きく、特に表面解析に優れた解像度を持つ3Dバックスキャッタ検出器アレイを備えています。PHILIPS Inspect F50には、高速プロセッサと専用グラフィックスカード、そして大量のRAMとストレージスペースを備えた高度なコンピュータシステムも搭載されています。これにより、シミュレータからのデータの高速な画像取得と整理が可能になります。さらに、Inspect F50は優れたサンプルハンドリングとイメージング機能を提供します。インレンズ自動ステージは、最大100mmのサンプルをサポートし、解像度は1オーングストロームまでです。自動化されたステージは、サンプルの読み込み、位置決め、および追跡のための正確な制御で多くのサンプルを処理することもできます。PHILIPS/FEI Inspect F50には、顕微鏡デジタルカメラと、サンプルをスキャンし、ナノメートルスケールで画像を収集するための統合マイクロプローブも装備されています。最後に、FEI Inspect F50は、SEMデータの画像操作と分析のためのユーザーフレンドリーなソフトウェアツールの包括的なセットも提供します。これらには、3次元画像を作成するためのツールや、自動測定および3D表面解析が含まれます。PHILIPS Inspect F50は高度で強力な走査型電子顕微鏡で、高解像度、サンプルハンドリング、制御に優れた高度なイメージングおよび解析機能を提供します。その幅広い機能、機能、ユーザーフレンドリーなソフトウェアツールは、マイクロおよびナノスケールでサンプルを画像化および分析するための究極のプラットフォームを提供します。