中古 PHILIPS / FEI FIB 200 #9298847 を販売中

PHILIPS/FEI FIB 200は、顕微鏡およびナノ鏡サンプルの観察および研究に使用される高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この電子顕微鏡は、材料科学、産業金属学、生命科学の分野で高分解能イメージングおよび材料分析に使用されています。FEI FIB 200は、非真空状態および多種多様な液体および気体状態でサンプルを観察することを可能にする環境ビューを備えています。これは、顕微鏡を使用してサンプルの周りの真空を維持することなくサンプルを分析することができることを意味します。走査型電子顕微鏡は、エネルギー分解能0。01 eVの電子を検出できる高分解能の電子検出器を備えています。これは、画像の最小の特徴を検出するのに十分な解像度で電子を測定できるため重要です。PHILIPS FIB-200には二次電子検出器も備えています。これは、電子ビームがサンプルの表面に衝突したときに生成される二次電子を顕微鏡で検出できるため重要です。これは、サンプルの表面特性を調べ、高解像度の画像を生成するのに役立ちます。また、PHILIPS FIB 200は超高真空システムを備えており、サンプルを調べることができる制御環境を提供します。これは、サンプルの汚染を最小限に抑え、空気中の他のガスによるサンプルの損傷を回避するために重要です。電子顕微鏡には2つの無料の照明システムがあります。1つ目は、サンプルから散乱した反射電子を使ってサンプルの明るい画像を生成するフィールドアシスト照明システムです。2つ目は、電子ビームがサンプルに当たったときに発生する二次電子を検出することで、サンプル表面の明るい画像を生成する二次電子モードです。最後に、PHILIPS/FEI FIB-200は、サンプルのデジタル画像の生成を可能にする高解像度デジタルカメラを備えています。さらに、顕微鏡にはサンプルの3D再構築を可能にするソフトウェアが搭載されています。これは、サンプルの分析と可視化に使用できる3次元モデルを作成するのに役立ちます。