中古 PHILIPS / FEI FIB 200 #293648640 を販売中

ID: 293648640
Focused Ion Beam (FIB) system Pre-lens system.
PHILIPS/FEI FIB 200スキャン電子顕微鏡(SEM)は、強力なイメージングおよび分析ツールです。この顕微鏡は、電界放射銃(FEG)を使用して、試料への電子の最適な移動を達成します。FEI FIB 200は、従来のTEM/SEM顕微鏡よりも高い解像度、優れた被写界深度、効率的な操作を可能にします。この機器は、拡張可能な倍率範囲を5,000〜100,000倍、低ノイズで、最大0。2 eVの優れたエネルギー分解能を備えています。これは、長さ200mmの大型Csフィールドレンズにより、最適な画像伝送と検出が可能です。低真空状態(<0。04 Pa)により、微細な標本を撮影し、サンプルの損傷を最小限に抑えることができます。SEMにはフォーカススタビライズドセンシング(FSS)システムもあり、観察時間を長くすることができます。PHILIPS FIB-200は、最適なサンプル位置決めを実現する高精度ステージを備えています。この段階は、すべての方向に最大100mmの距離を移動し、± 40°まで回転することができます。さらに、ステージは1つのセッションで積み重ねられたマルチポイントスキャンを実行することができ、V字型グリッドと幅広い標準スキャンアクセサリを備えています。この分析装置には、エネルギー分散X線分光法(EDX)、二次電子イメージング(SEI)、伝送電子イメージング(TEM)など、さまざまな分析アプリケーションがあります。また、パルスカウントモードで多数の高解像度画像を収集し、より正確なデータ収集を可能にします。FIB-200のユーザーは、組み込みの自動ハードウェアとソフトウェアの恩恵を受けることができます。これにより、セットアップ時間が大幅に短縮されます。PHILIPS/FEI FIB-200 SEMは強力な分析およびイメージングツールで、さまざまな信頼性の高い機能を提供します。有機試料と無機試料の両方の分析測定に非常に効果的です。その高性能と数多くの自動化されたアプリケーションにより、信頼性と効率性の高いSEMを求めるユーザーに最適な選択肢となります。
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