中古 PHILIPS / FEI FIB 200 #293595359 を販売中

PHILIPS/FEI FIB 200は、電界放出電子光学、フォーカスイオンビーム（FIB）技術、高度な解析を組み合わせた走査型電子顕微鏡です。この強力なツールは、オペレータに包括的なイメージングと分析機能を提供するように設計されています。FEI FIB 200の主な構成要素は、画期的なデュアル検出システムです。これは、急速な地形解析を提供する環状ダークフィールド（ADF）検出器と、異なる化学成分を識別できる逆散乱電子（BSE）検出器で構成されています。PHILIPS FIB-200のADF検出器は、非常に高解像度のイメージングを可能にします。この強力なイメージング機能により、最大3ナノメートルの解像度が得られ、非常に詳細な画像が得られます。印象的なイメージング機能に加えて、FEI FIB-200にはPrecise Ion Beam Generatorも搭載されています。これにより、製造精度が向上し、高品質な断面画像を生成する統合システムと、比類のない精度で高解像度の三次元表面再構築が可能になります。FIB-200には、高解像度イメージング、原子プローブトモグラフィー、その他の高度な解析のためのFIBシステムへのシームレスな接続を可能にする統合FIB-SEMポートも含まれています。この機能により、様々なサンプル構造を直接操作できるため、システムの汎用性が大幅に向上します。PHILIPS/FEI FIB-200の最も印象的な機能の1つは、その高度なソフトウェアです。このソフトウェアスイートは、画像シーケンスの自動生成、複製サンプルの自動検査、インタラクティブな3Dデータ分析など、さまざまな強力なツールを提供します。FIB 200は、最も複雑なサンプルのイメージングと分析に最適なソリューションです。電界放出電子光学、焦点イオンビーム技術、高度なデータ解析を組み合わせたこの走査型電子顕微鏡は、あらゆる実験室にとって不可欠なツールです。