中古 PHILIPS / FEI FIB 200 #293594795 を販売中

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293594795
Focused Ion Beam (FIB) system Ion column GIS Included.
PHILIPS/FEI FIB 200は、最新の研究環境向けに設計された最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。高品質なイメージング機能で設計されており、最も繊細なサンプルでも構造を観察することができます。FEG (Field-emission gun)は高分解能に寄与し、原子規模での材料の探偵研究を可能にします。この装置には高精度のサンプルチャンバーが装備されており、繊細な織物から壊れやすい生物材料まで、安定した堅牢なサンプル実装が可能です。一方、その大きな250mmターゲットのサンプルサイズは、さまざまなサンプルサイズの広い配列に対応しています。この顕微鏡は、電界放射銃の高度な高解像度イメージング性能を備えており、欠陥解析、ナノ構造イメージング、ナノテクノロジーなどの研究に最適です。この強化された画像解像度は、繊細なサンプルを撮影してもシャープな画像を確保するために、リアルタイムの弾道電子によってサポートされています。さらに、インタラクティブデジタルマニュアルスキャンモードを使用すると、ユーザーは必要に応じてスキャンパラメータを調整できます。FEI FIB 200は、サンプルの元素組成の分析を提供する強力なエネルギー分散分光(EDS)システムと統合されています。超解像度レンズとの互換性があり、高感度サンプルでも解像度の限界をさらに押し上げることができます。このSEMはユーザーフレンドリーで人間工学に基づいています。イメージコントロールステーションや大型で直感的なコントロールパッドなどの機能により、サンプルイメージングと操作がユーザーにとってより便利になります。PHILIPS FIB-200は汎用性が高く、単一楽器でさまざまなタスクを実行できます。その優れた画像解像度と直感的なインターフェイスは、さまざまな研究に最適なツールです。
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