中古 PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354 を販売中

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200は、高分解能イメージング機能を提供するツールであるデュアルビームスキャン電子顕微鏡です。この顕微鏡は、さまざまな分野の研究者にとって不可欠なツールとなるさまざまな機能を備えています。基本的な光学系は、陰極光源と電子のビームを集中して操作するために使用される様々なレンズと制御で構成されています。この顕微鏡は、焦点イオンビーム(FIB)も備えています。このデバイスは毛細血管を直接操作することができ、フライス加工や掘削などの操作が可能です。同じ装置に電子ビームとイオンビームを組み合わせることで、高分解能イメージングとナノファブリケーションの両方を実現します。顕微鏡自体の最大解像度は0。8nmで、視野は最大4mmです。30kV〜30kVで動作可能で、さまざまな動作モードに調整できます。さらに、サンプル分析に利用可能な分析システムを備えており、二次電子、後方散乱電子、X線からの信号を提供します。FEI FIB 200は一貫した良質の結果を作り出すことができる多目的なイメージ投射の器械です。電子ビームイメージング機能と低消費電力、幅広い動作モードを組み合わせているため、研究者に最適です。PHILIPS FIB-200は非常に精密で信頼性の高い機械であり、最高レベルの品質と精度を提供します。
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