中古 PHILIPS / FEI EM208 #293805148 を販売中

PHILIPS/FEI EM208は顕著なディテールで顕微構造を分析するために使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。最先端のGatanイメージング技術を搭載し、最高解像度を2。5nmまで提供します。広範な加速電圧とミリアンプ放射電流により、試料は浅い表面から非常に深い構造レベルまで正確かつ確実に分析することができます。FEI EM208は、高品質の画像を確実に配信するために、高度なGEMINIイメージングソフトウェアで動作します。独自のGIF量子二次電子検出器を使用して、正確なカラーコントラストでサンプルのさまざまな領域を正確に決定します。このスキャン電子顕微鏡には、フォーカスの自動化、スティグメーション、加速電圧と放射電流の設定、画像の明るさとコントラストの最適化、および自動測定パラメータなど、いくつかの自動プログラムが装備されています。精密な自動EDAXエネルギー分散分光計を搭載したPHILIPS EM 208は、元素組成を正確に解析できます。この分析検出器には、EDAX HEXやEDX elemental mapping、 X-EDSA、 Wedge Mapping、 Energy/Mass Spectrometryなどの応用された従来の分析技術を識別できるソフトウェアが組み込まれています。PHILIPS/FEI EM 208は、特定の材料を簡単に分析できるX線検出器も提供しています。X線検出器は、分析されたサンプルの深さを決定するために使用することができ、下面深度を計算するために自動化することができます。PHILIPS EM208は、驚くべき機能の包括的な範囲のため、研究および品質保証アプリケーションに最適です。サンプル特性評価と元素解析の両方に最高の解像度と精度を提供します。電子ビーム誘導電流（EBIC）により、サンプル中の電流の伝導を検出し、半導体デバイスの接点の極性と電気配線に関する情報を提供します。最終的に、FEI EM 208は高度なイメージングおよび分析機能の包括的な範囲を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。比類のない解像度と自動化により、比類のないユーザーの利便性で比類のない精度とディテールを提供します。