中古 PHILIPS / FEI EM 400T #9300051 を販売中

PHILIPS/FEI EM 400Tは、超小型試料の詳細を高精度で観察できる走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、ナノスケールの解像度で詳細な画像を取得するために、フィールド放射、高解像度カソドルミネッセンスイメージング、および二次電子イメージングなどの強力な技術の組み合わせを使用しています。FEI EM 400Tは、10xから250,000x以上の高倍率を提供します。PHILIPS EM 400Tは、電子充電アンプによって電子化された電子を生成する電子銃に依存して、フィールド放出技術に基づいています。これらの電子は、サンプル表面に焦点を当てたビームを形成し、サンプルの高分解能断面画像を提供します。同時に、サンプルから二次電子が放出され、イメージングに使用されます。カソドルミネッセンスイメージングもEM 400Tでサポートされています。この技術は、あらかじめ定義されたエネルギーと波長の電子ビームを使用してサンプルの領域をスキャンし、分光情報を得ます。この装置は、イメージングと発光分光の両方を組み合わせて、材料の定量測定を提供します。PHILIPS/FEI EM 400Tは、材料故障解析、半導体およびウェーハ検査、バイオイメージング、半導体デバイス製造など、多くの用途に適したツールです。その統合されたソフトウェアは、ユーザーが手に特定のイメージングタスクに応じて顕微鏡の設定をカスタマイズすることができ、効率的なワークフローに役立ちます。FEI EM 400Tは、研究室、生産ライン、QA/QCアプリケーションなど、さまざまな環境で信頼性の高い走査型電子顕微鏡（SEM）イメージング用に構築されています。その自動化された操作とユーザーフレンドリーな設計は、試料の準備とイメージング中に最大の効率を提供します。この堅牢な装置は、薄膜、生体材料、冶金など、さまざまな材料分析に適しています。