中古 PHILIPS / FEI EM 400T #9257475 を販売中
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ID: 9257475
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine
Multi-axis specimen holders
(19) Nozzles
(4) Metal mesh filter tubes
(2) Extender cards
CCD Cameras
Pre-vac gauges
Lens regulator
HIVAS Gauges
Evaluation electronics
Sensors
Image processing unit
Circuit boards
Spare parts
Manuals included.
PHILIPS/FEI EM 400Tは、ナノスケールでのサンプルのイメージングおよび特性評価に使用される、熱電場の放出走査型電子顕微鏡（TFE-SEM）です。モジュラー設計により、ユーザーのアプリケーションニーズに合わせたカスタマイズが可能です。FEI EM 400Tには、200mmのフラットポール走査電子源、25mmの高出力の球面走査電子源、および高精度の低エネルギーグリッドベースのガンアライメント装置が装備されています。また、革新的なインレンズダブルチルトガンアライメントシステムを搭載し、電子ビームの傾きとフォーカスを簡単に変更できます。PHILIPS EM 400Tは、高速かつ正確なサンプルイメージングを実現する高度なフィールド放射技術を提供します。これは、大きな画像フィールドで設計されており、最大4K解像度の画像をキャプチャすることができ、16メガピクセルのデジタルカメラが含まれています。EM 400Tの最大作動距離は10mm、解像度は1。2nmです。また、サンプル交換ユニットを自動化し、複数のサンプルを中断することなくスキャンすることができます。PHILIPS/FEI EM 400Tは、後方散乱電子（BSE）、二次電子（SE）、エネルギー分散X線分析法（EDS）、カソドルミネッセンス（CL）、広域スペクトラム画像（BSI）などの印象的な画像処理能力を提供します。それはまた、強度とフィルターコントロールの広い範囲を持っています。超安定なサンプルステージとサンプルホルダーは、優れた振動分離と優れたサンプルポジショニングとアライメント精度を提供します。FEI EM 400Tには、直感的なソフトウェアインターフェイスを備えた統合されたPCベースの制御マシンが含まれています。このツールは、コントラストやしきい値のコントロール、画像の平均化、イメージステッチ機能など、高品質の画像を作成するための包括的なツールを提供します。また、サンプル準備ツールを自動化し、サンプルを素早く準備することができます。全体として、PHILIPS EM 400Tは、鉱物、ナノ粒子、およびフォトボルタ材料などの幅広いナノメートルスケールのサンプルを研究するための理想的な機器です。EM 400Tは、革新的なフィールド放射技術、さまざまなイメージング機能、自動サンプル調製ツールを備えており、さまざまなアプリケーションにおいて優れたイメージングおよび特性評価性能を提供します。
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