中古 PHILIPS / FEI EM 400 #9298535 を販売中

PHILIPS/FEI EM 400走査型電子顕微鏡（SEM）は、超高解像度で顕微構造を表示および分析するために使用される強力な調査ツールです。背景散乱電子イメージング（BSEI）、二次電子イメージング（SEI）、 EDX（エネルギー分散X線分光法）など、さまざまなイメージング技術を利用しています。FEI EM 400は、これら3つの技術の能力を組み合わせることで、サンプルの組成と形態に関する豊富な詳細情報を研究者に提供することができます。PHILIPS EM 400は、電子顕微鏡検査用に特別に設計された超高解像度VGA式電子検出器を備えています。この検出器は、新しい高速スキャンシステムと組み合わせて使用され、数秒で幅広い画像タイプを取得できます。高解像度モードでは毎秒1,200枚、中解像度モードでは毎秒3,500枚のサンプルを処理できます。さらに、EM 400には高度なマイクロメーターステージアライメントが装備されており、正確な試料の向きと位置決めが可能です。優れたイメージング性能を発揮するため、PHILIPS/FEI EM 400には最先端のフィールドエミッションガン（FEG）が搭載されています。このFEGは、ユーザーに高い電子フラックスを提供し、画像コントラストと優れた解像度を向上させます。さらに、その高度な単結晶光学は、最適な画像の明るさ、協調性、および均一性を提供します。さらに、この顕微鏡は、30から0。5 Paまでのさまざまな真空圧力下で動作することができます。FEI EM 400には、ユーザーが自分の機器のパフォーマンスを最適化することができるいくつかの独自の機能が付属しています。デジタルイメージ収集システム（DIAS）は、コントラストを補正し、サンプル寸法を測定し、顕微鏡から遠隔PCに画像を転送できる強力な画像処理スイートを提供します。また、この顕微鏡にはTFES （Thermal Field Emission Source）検出器が内蔵されており、サンプルステージの正確な位置決めが可能で、画像取得が向上しています。結論として、PHILIPS EM 400は、高度なイメージング技術と高度な電子光学部品の力を組み合わせた非常に汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、研究者はそのサンプルを詳細に把握することができます。フィールドエミッションガン、単結晶光学、独自の機能の範囲を利用することで、ユーザーは機械の性能を最適化し、最小限の努力で高品質の画像を取得することができます。