中古 PHILIPS / FEI DB237 #293620721 を販売中

PHILIPS/FEI DB237は、顕微鏡構造および表面の研究に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。高分解能の電界放射陰極を搭載し、高エネルギー・小径の電子ビームを生成し、サンプルの容易かつ正確なイメージングを可能にします。電子ビームは半磁気サンプルホルダー上にあるサンプルに向けられ、広範囲の傾斜角度を可能にし、異なる角度からサンプルの特徴を観察する機会を与えます。さらに、この装置には、ナノメートルスケールの材料の構造に関する情報を提供する二次および後方散乱電子（BSE）検出器が含まれています。これは、一次電子ビームから電子を収集する能力と組み合わせることで、原子レベルでの分解能で表面地形を測定することができます。システムのその他の機能には、拡大、パンニング、ピクセル平均化のためのデジタルイメージビデオ処理が含まれます。さらに、FEI DB237は、生体試料やポリマーなどの非導電材料のイメージングを可能にする低真空モードを提供しています。このユニットはまた、要素マッピングおよび化学イメージング用のインカラム・エネルギーフィルタリング分析（EELS）も提供しており、さまざまな研究タスクに適しています。この統合ソフトウェアは、PHILIPS DB237の機能をさらに強化し、画像解析、3D表面再構築、定量分析、画像操作のためのさまざまなツールをユーザーに提供します。このマシンの直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスにより、操作が簡素化され、研究者はこのSEMを最大限に活用することができます。結論として、DB237は、ユーザーが原子レベルでサンプルを観察し、分析することができる高性能のコンパクトSEMです。高解像度電子ビーム、BSE検出器、統合ソフトウェアを組み合わせて、ナノメートルスケールの解像度で表面地形図や元素マッピング作業を行うことができます。