中古 PHILIPS / FEI CM200 #9232065 を販売中

PHILIPS/FEI CM200は、高度なイメージングおよび分析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。ナノスケールイメージングおよびサブミクロン表面解析に広く使用されています。FEI CM200は200kVの電界放出源を備えており、乱視を低減しながら高解像度の画像処理を行うことができます。ClearCMOS™検出器は、マルチチャンネルイメージング用の二次電子と後方散乱電子を同時に提供し、信号対ノイズ比を高速化し、データ品質を向上させます。PHILIPS CM 200は、独自のオートコントラスト機能により画質を向上させ、素材や特性を知らずにサンプルを分析することができます。CM 200は高度な計算能力を備えて設計されており、科学者やエンジニアは画像をより高速かつ高精度にキャプチャすることができます。この顕微鏡は、高速X、 Yスキャン、大きなZスキャン範囲、最大1KHzスキャン速度を備えています。立体イメージング、3D表面イメージング、および複数のイメージングモダリティもサポートされています。PHILIPS CM200は、半導体の故障解析、高度な3D表面特性評価、欠陥局在化および解析、漏れ電流イメージングなど、さまざまな材料分析のニーズに対応するように設計されています。CM200の高度なオートメーション技術により、サンプルの読み込みとアライメントが簡素化され、ユーザーは1回のセッションで最大24個のサンプルを画像化できます。PhilipPHILIPS/FEI CM 200は、イメージング機能に加えて、元素分析、化学組成マッピング、沈殿物モニタリングなど、さまざまな分析機能を提供します。また、この顕微鏡は多様な検出器をサポートしており、特定のアプリケーションに適した検出器を柔軟に選択できます。FEI CM 200は、幅広い用途に対応する高度なイメージングおよび分析機能を提供する高度な走査型電子顕微鏡です。内蔵のオートメーションにより、使いやすく、高度な機能により、最高解像度の画像と正確なサンプル分析を実現するための理想的な選択肢となります。