中古 PHILIPS / FEI CM200 #293774069 を販売中

PHILIPS/FEI CM200は、さまざまな研究および産業用途で広く使用されている高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。FEI CM200は、高度なイメージング機能と精密な分析ツールにより、研究者や科学者に高解像度で精度の高い幅広いサンプルを調査する能力を提供します。PHILIPS CM 200にはフィールドエミッションガン（FEG）電子源が搭載されており、画像や解析に非常に安定した強烈な電子ビームを提供します。FEG電子源は、優れた輝度とコヒーレンスを提供し、その結果、従来の熱電子源と比較してイメージング分解能と信号対ノイズ比が向上しました。これにより、PHILIPS CM200は、ナノメートルスケールの詳細なサンプルの高解像度イメージングを実現します。PHILIPS/FEI CM 200の主な特徴の1つは、高解像度イメージング機能です。30キロボルトで最大0。6ナノメートルの解像度で、CM200は卓越した明瞭さと精度でサンプル表面の詳細な画像をキャプチャすることができます。この高分解能は、様々な材料の微細構造、表面形態、元素組成の研究に不可欠です。CM200には、イメージングに加えて、さまざまな分析ツールが搭載されており、研究者はサンプルの詳細な特性評価と分析を行うことができます。FEI CM 200は、エネルギー分散型X線分光法（EDS）が可能であり、研究者はサンプル中に存在する元素を特定し、高い空間分解能で分布をマッピングすることができます。これは、元素分析、不純物の同定、材料の化学組成の研究に有用である。さらに、PHILIPS/FEI CM200は電子逆散乱回折（EBSD）機能を備えており、結晶方位、粒界、材料の位相変換に関する情報を提供します。EBSDは、材料の微細構造と機械的特性を研究するための強力な技術であり、材料科学および冶金研究のための貴重なツールです。FEI CM200はまた、電子ビームリソグラフィ（EBL）機能を提供しており、研究者はサンプル表面で直接ナノ構造やパターンを製造することができます。この機能は、ナノテクノロジーや半導体産業の先進的なデバイスやコンポーネントを作成するために不可欠です。PHILIPS CM 200には直感的なユーザーインターフェイスとソフトウェアが搭載されており、操作とデータ分析が簡単に行えます。研究者は、顕微鏡のパラメータを制御し、画像を取得し、解析を実行し、ソフトウェアインターフェイスを使用して効率的にレポートを生成することができます。PHILIPS CM200ソフトウェアは、フィルタリング、測定、3D再構築などの高度な画像処理ツールも提供し、データの解釈と可視化を強化します。全体的に、PHILIPS/FEI CM 200は、高解像度イメージング、精密分析機能、および幅広い研究用途向けの高度な機能を提供する汎用性と強力な走査型電子顕微鏡です。優れた性能とユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたCM200は、材料科学、ナノテクノロジー、生物学、地質学、その他多くの分野における科学研究に不可欠なツールです。