中古 PHILIPS / FEI CM200 #293639843 を販売中

PHILIPS/FEI CM200は、汎用性の高い高性能イメージングを提供する高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。従来のSEMシステムとは異なり、この顕微鏡は非常に高い精度と精度を提供し、研究者は幅広い材料の内部微細構造を観察することができます。FEI CM200は、高解像度の二次電子検出器とZeissソースの画像処理装置を使用して、高解像度およびコントラスト画像を生成します。さらに、このシステムは、反応チャンバを使用して、さらに分析するために、グラフィカルに見える、エッチング、および堆積材料を使用することができます。PHILIPS CM 200の特徴は、極めて高解像度です。Zeissイメージングシステムと相まって、画像解像度は従来の光学顕微鏡よりも3000xに達する可能性があり、研究者はナノスケールで構造を研究することができます。検出ユニットは、1マイクロメートル以上の視野を提供し、研究者は、詳細度の高いオブジェクトを表示し、それらを元のサイズの100,000倍まで拡大することができます。優れたイメージング機能に加えて、CM200にはサンプル分析を容易にするさまざまな機能があります。本機は、一次電子銃の電圧・ビーム圧力を制御し、コントラスト・強化などの機能を提供し、未処理の表面を検査するための高強度の逆散乱電子（BSE）イメージングモードをはじめとする様々な高分解能イメージングモードを提供することができます。また、幅広い自動化ツールをサポートし、研究者が実験を管理するのを支援します。PHILIPS/FEI CM 200は、他のSEMよりも幅広い利点を提供します。高解像度イメージング機能により、研究者は比類のない精度とディテールを持つ顕微鏡物体を研究することができます。自動化されたツールは、研究者に実験をより大きな制御を提供します。このツールには反応チャンバも含まれており、ユーザーはさらに分析するための半導体処理と堆積を探索することができます。全体として、FEI CM 200は強力な走査型電子顕微鏡であり、研究者に材料を研究するための非常に正確なツールを提供します。その高解像度と自動化された機能の範囲は、研究タスクの広い範囲のための理想的な選択肢となります。