中古 PHILIPS / FEI CM200 #293606955 を販売中

PHILIPS/FEI CM200走査型電子顕微鏡は、様々な材料の顕微鏡表面形態の検査に使用される高度で汎用性の高いイメージング装置です。この顕微鏡は、低電圧の分析電子カラムを備えており、主にサンプルの表面地形の高分解能画像を得るために使用されます。FEI CM200は、さまざまな検出器やアクセサリの柔軟な統合を可能にするモジュラープラットフォームに基づいた設計を特徴としています。これにより、この顕微鏡は半導体デバイス、結晶、地質学、生物学などのさまざまなイメージング用途に理想的な選択肢となります。顕微鏡は200kVのタングステンフィラメント電子銃によって動力を与えられます。この銃は、磁気レンズと静電レンズを組み合わせて、試料表面に集中して誘導する電子ビームを生成します。電子ビームは2つのステッピングモータを介してサンプル全体にスキャンされ、その結果生じる二次電子は、画像処理のための電子検出器によって検出されます。また、PHILIPS CM 200には逆散乱電子（BSE）検出器が搭載されており、表面の特徴を抑制し、サンプルのより深い特徴を明らかにすることができます。PHILIPS/FEI CM 200のチューブゲインは、2次電子の最大分解能20nmで0。5〜8xの間で調整可能です。調節可能なZ軸デジタルサーフェスイメージングシステムを搭載し、傾斜角度を正確に調整し、サンプルの特徴に焦点を当てることができます。さらに、この顕微鏡は、デジタルおよび陰極発光検出器、およびより詳細な結果を得るために使用できるX線分光計などのさまざまな特殊検出器パッケージと互換性があります。CM 200スキャン電子顕微鏡は、非常に洗練された強力なイメージング装置であり、サンプルの表面形態の非常に詳細なビジュアルを幅広い材料に提供することができます。顕微鏡に付随するユーザーフレンドリーな制御ソフトウェアは、オペレータが最大の明瞭さとディテールのために倍率、明るさ、およびコントラストを調整することができます。その強力なイメージング機能、柔軟性、手頃な価格を考慮して、FEI CM 200は、さまざまなイメージングアプリケーションに最適です。