中古 PHILIPS / FEI CM20 #293808438 を販売中

ID: 293808438
ヴィンテージ: 2002
Transmission Electron Microscope (TEM) 2002 vintage.
PHILIPS/FEI CM20は、さまざまな材料の表面の詳細な画像を生成するために使用されるハイテク走査型電子顕微鏡(SEM)です。多彩な機能を備えた汎用性の高い機器で、今日の生産で最も人気のあるSEMの1つです。FEI CM20は、2ナノメートルの印象的な解像度を持っています。これは、驚くべき明瞭さを備えた最小の機能でも検出できることを意味します。また、高感度であり、サンプル材料からの非常に低いレベルの放射線を検出することができます。PHILIPS CM 20は、さまざまなタイプの画像コントラストを生成することができます。二次電子と後方散乱電子の両方を生成することができ、広範囲の画像強度とコントラストレベルを生成することができます。さらに、FEI CM 20は低真空環境と高真空環境の両方で画像を生成することができ、異なる種類の画像技術を同じ画像に組み合わせることができます。CM20には、高品質の画像を作成するためのさまざまな機能があります。これらには、サンプルが適切に配置され、最適な画質のために整列されることを保証する自動アライメントシステムが含まれます。さらに、入射電子ビームの角度を最適化する自動傾斜機能を備えており、入射電子ビームがサンプル表面に垂直であることを保証します。最後に、CM 20は高速スキャンユニットを備えており、従来のSEMで必要とされていた高品質の画像をわずかな時間でキャプチャすることができます。これにより、最も詳細で複雑な画像でも迅速かつ正確に作成できます。結論として、PHILIPS/FEI CM 20は、さまざまな材料の詳細な画像を正確かつ迅速にキャプチャするために使用することができ、強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡です。それは印象的な解像度と最適なパフォーマンスを確保するために自動化されたアライメントや自動傾斜などの多くの機能を持っています。また、高速スキャニングマシンにより、従来のSEMで必要とされていた高品質な画像をわずかな時間でキャプチャすることができ、研究室や業界でも人気のある選択肢となっています。
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